电子产品高低温测试可靠性测试报告高低温试验方法

GBT GB/T2423高低温湿热振动冲击跌落淋雨低气压检测机构具备国家实验室资质CNAS和CMA双重资质认可，可靠性测试可以按照GB/T2423标准进行高温、低温、湿热、振动、冲击、跌落、淋雨、低气压、温度冲击、温度循环等环境适应性试验一站式检测服务，测试通过后，出具国家承认的中文或英文检测报告。

可以实施的环境试验,可靠性测试项目及试验标准如下：

1.气候环境试验（gb2423，gjb150a，gjb4，iec60068、gjb1032，gjb322a，gjb360a，gjb548，gb4208，gjb899，tb3021等）

a.温度试验：高温试验、低温试验、温度冲击试验、温度变化试验、快速温度变化试验（温度变化速率可达15度/min）、高温老化试验，温度循环试验。

b.湿度（潮湿）试验：恒定湿热试验，交变湿热试验，高温高湿试验（双85试验，双95试验）；

c.外壳防护等级试验：ip42、ip44、p54、ip55、ip65、ip66、ip67、ip68防护等级认证及测试服务；

d.三防试验：盐雾腐蚀试验（中性盐雾试验、交变盐雾试验、酸性盐雾试验），湿热试验（恒定湿热、交变湿热），霉菌试验（发霉试验，长霉试验）；

e.特殊试验：低气压试验（海拔高度试验）、高气压试验、太阳辐射试验、淋雨试验、沙尘试验等。

高低温试验方法：

预处理：将被测样品放置在正常的试验大气条件下，直至达到温度稳定。

初步检测：将测试样品与标准要求进行比较，满足要求后直接放入高低温试验箱。

样品断电时，试验样品应按标准要求放置在试验箱内，试验箱（室）内温度应降至-50℃，保持4小时；不要在样品通电状态下进行低温测试，这一步非常重要，因为芯片本身在通电状态下会产生20℃因此，在通电状态下，通常更容易通过低温试验，必须先冻透，再通电试验。

在低温阶段结束后5min将试验样品转换为已调整的样品90℃保持在高温试验箱（室）内4h或者直到测试样品达到温度稳定，与低温测试相反，加热过程不断电，芯片内部温度保持高温，4小时后执行A、B测试步骤。

进行老化测试，观察是否存在数据对比错误。

高温和低温试验分别重复10次。

重复上述实验方法，以完成三个循环。根据样品的大小和空间的大小，时间可能略有误差。

恢复：试验样品从试验箱中取出后，应在正常试验大气条件下恢复，直至试验样品达到温度稳定。

最后检测：根据标准中的损伤程度等方法评估检测结果。