硬件电路原理图的可靠性分析,失效率计算,诊断覆盖率测试

硬件电路原理图的可靠性分析，失效率计算，诊断覆盖率计算，可靠性测试产品MTBF测试，第三方产品检验检测机构，提供专业可靠性测试服务，提供可靠性试验方案，出具国家承认第三方检测报告。

北京可靠性试验实验室第三方检测机构成立于2006年，实验室经过10多年的艰苦努力，已发展成为综合性的第三方研究所检测机构，检测行业涉及40多个行业，300多项测试标准，已涵盖了大多数设备的可靠性测试需求。实验室地理位置优越，位于北京市西城区广安门外大街甲397号（广外办公区）。

可靠性试验主要考核各类设备在规定的应力条件下完成规定功能的能力，可靠性试验是为了解、评价分析和提供产品可靠性而进行各类测试的总称。

可靠性试验主要的目的是对各类产品进行各类环境应力的筛选来激发产品的故障从而提供产品的可靠性水平。我们所说的可靠性试验，主要是指产品的可靠性寿命试验，可通过可靠性寿命试验了解产品的寿命特征和失效规律，并计算出产品的失效率和平均雾故障时间。

可靠性寿命试验通常选取的典型环境应力有：高低温、恒定交变湿热、振动试验、环境温度等。
我们经常做的可靠性寿命试验主要是平均无故障时间，MTBF≥多少小时。
常规测试的可靠性平均无故障时间通常做的有500h,1000h,2000h,3000h等。
可靠性寿命试验主要依据什么检测标准来进行测试大纲的制定？
设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案：GB/T 5080.7-1986，IEC 60605-7:1978；
设备可靠性试验 恒定失效率假设的有效性检验：GB/T 5080.6-1996，IEC 60605-6:1989；
设备可靠性试验成功率的验证试验方案：GB/T 5080.5-1985，IEC 60605-5:1982；
设备可靠性试验 可靠性测定试验的点估计和区间估计方法 (指数分布)：GB/T 5080.4-1985，IEC 60605-4:1978。
可靠性试验 第2部分：试验周期设计 GB/T 5080.2-2012，IEC 60605-2:1994；
可靠性试验 第1部分：试验条件和统计检验原理 GB/T 5080.1-2012，IEC 60300-3-5:2001。