• 114检测实验室
  • 网站首页
  • 环境试验
  • 可靠性试验
  • 电磁兼容试验
  • 其它试验
  • 第三方检测机构
  • 供求资源平台
  • 检测测试
  • 联系我们
  • 当前位置:首页 » 环境试验 » 低气压试验 » 环境试验标准
    环境试验标准 www.test114.com.cn
      

     

    环境试验标准

    GB/T 2470-1995 电子设备用固定电阻器固定电容器型号命名方法
    GB/T 15882-1995 电子设备用膜固定电阻网络 第2部分: 按能力批准程序评定质量的膜电阻网络分规范
    GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法
    GB/T 15881-1995 电子设备用电位器 第3部分: 空白详细规范 旋转式精密电位器 评定水平E
    GB/T 15887-1995 SMC型射频同轴连接器
    GB/T 15884-1995 电子设备用固定电阻器 第5部分: 空白详细规范: 精密固定电阻器 评定水平 F
    GB/T 15946-1995 可程控测量设备的标准数字接口
    GB 4793.1-1995 测量控制和试验室用电气设备的安全要求 第1部分: 通用要求
    GB/T 3353-1995 人造石英晶体使用指南
    GB 15843.1-1995 信息技术 安全技术 实体监别机制 第1部分:一般模型
    GB/T 9536-1995 电子设备用机电开关 第1部分: 总规范
    GB/T 15885-1995 电子设备用固定电阻器 第4部分: 空白详细规范: 功率型固定电阻器 评定水平 F
    GB/T 15189-1994 DOS中文信息处理系统接口规范
    GB/T 15647-1995 稳态可用性验证试验方法
    GB/T 15130.2-1995
    信息处理 数据交换用95mm改进调频制记录的密度为15916磁通翻转/弧度每面80条磁通的软磁盘
    第二部分:磁通格式
    GB/T 15273.2-1995 信息处理 八位单字节编码图形字符集 第二部分: 拉丁字母二
    GB/T 15656-1995 超扭曲向列型液晶显示器件 空白详细规范
    GB/T 15935-1995 存折本的磁条
    GB/T 15655-1995 超扭曲向列型液晶显示器件分规范
    GB/T 15540-1995 陆地移动通信设备电磁兼容技术要求和测量方法
    GB/T 15872-1995 半导体设备电源接口
    GB/T 15876-1995 塑料四面引线扁平封装引线框架规范
    GB/T 15877-1995 蚀刻型双列封装引线框架规范
    GB/T 15878-1995 小外形封装引线框架规范
    GB/T 15870-1995 硬面光掩模用铬薄膜
    GB/T 15879-1995 半导体器件的机械标准化 第5部分: 用于集成电路自动焊载带(TAB)的推荐值
    GB/T 15867-1995 射频同轴电缆组件 第4部分:半硬同轴电缆组件分规范
    GB/T 15866-1995 射频同轴电缆组件 第2-1部分:柔软同轴电缆组件分规范
    GB 10320-1995 激光设备和设施的电气安全
    GB/T 11457-1995 软件工程术语
    GB/T 15750-1995 压电陶瓷材料老化性能试验规程

    信息处理 数据交换用130mm改进调频制记录的位密度为13262磁通翻转/弧度每面80条磁道的软磁盘
    第二部分: 磁道格式 A ( 用于77条磁道)
    GB/T 15121.1-1994 信息处理系统 计算机图形 存储和传送图片描述信息的元文卷 第一部分: 功能描述
    GB/T 14619-1993 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
    GB/T 9438-1988 铝合金铸件技术条件
    GB/T 7423.1-1987 半导体器件散热器 通用技术条件
    GB/T 7423.2-1987 半导体器件散热器 型材散热器
    GB/T 7423.3-1987 半导体器件散热器 叉指形散热器
    GB/T 6115-1985 串联电容器
    GB/T 3909-1983 信息交换用图形字符点阵形状
    GB/* 4069-1983 电子陶瓷零件公差
    GB/T 2471-1995 电阻器和电容器优先数系
    GB/T 2413-1980 压电陶瓷材料体积密度测量方法
    GB/T 2036-1994 印制电路术语
    GB/T 4376-1994 半导体集成电路 电压调整器系列和品种
    GB/T 15120.2-1994 识别卡 记录技术 第2部分: 磁条
    GB/T 15120.3-1994 识别卡 记录技术 第3部分: ID-1型卡上凸印字符的位置
    GB/T 15120.4-1994 识别卡 记录技术 第4部分: 只读磁道的第1磁道和第2磁道的位置
    GB/T 15120.5-1994 识别卡 记录技术 第5部分: 读写磁道的第3磁道的位置
    GB/T 15177-1994 微波检波混频二极管 空白详细规范
    GB/T 15178-1994 变容二极管空白详细规范
    GB/T 4313-1995 信息处理 办公机器和打印机用编织打印色带通用技术条件
    GB/T 3213-1994 闸流管与充气整流管测试方法
    GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分: 场效应晶体管
    GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
    GB/T 4967-1995 电子计算器通用技术条件
    GB/T 5729-1994 电子设备用固定电阻器 第一部分: 总规范
    GB/T 9314-1995 串行击打式点阵打印机通用技术条件
    GB/T 8566-1995 信息技术 软件生存期过程
    GB/T 9387.2-1995 信息处理系统 开放系统互连 基本参考模型 第2部分:安全体系结构
    GB/T 15533-1995 信息处理系统 小型计算机系统接口
    GB/T 9387.3-1995 信息处理系统 开放系统互连 基本参考模型 第三部分:命名与编址
    GB/T 9547-1994 电子设备用固定电阻器 第八部分: 空白详细规范 片式固定电阻器 评定水平E
    GB/T 9698-1995 信息处理 击打式打印机用连续格式纸通用技术条件
    GB/T 15534-1995 信息处理系统 数据库语言NDL
    GB/T 15629.2-1995 信息处理系统 局域网 第2部分: 逻辑链路控制
    GB/T 14580-1993
    电子设备用固定电容器 第17部分: 空白详细规范 金属化聚丙烯膜介质交流和脉冲固定电容器 评
    定水平E
    GB/T 15936.8-1995 信息处理 文本和办公系统 办公文件体系结构(ODA)和交换格式 第8部分:几何图形内容体系结构
    GB/T 14598.1-1993 电气继电器 电气继电器的触点性能
    GB/T 15131.1-1994
    信息处理 数据交换用130mm改进调制频制记录的位密度为13262 磁通翻转/弧度每面80条磁道的软
    磁盘 第一部分:尺寸物理性能和磁性能
    GB/T 15132.1-1994
    信息处理 数据交换用130mm双频制记录的位密度为7958 磁通翻转/弧度道密度为1.9道/毫米的单面
    软磁盘 第一部分:尺寸物理性能和磁性能
    GB/T 15132.2-1994
    信息处理 数据交换用130mm双频制记录的位密度为7958 磁通翻转/弧度道密度为1.9道/毫米的单面
    软磁盘 第2部分: 磁道格式
    GB/T 15133.1-1994
    信息处理 数据交换用200mm双频制记录的位密度为13262磁通翻转/弧度道密度为1.9道/毫米的单面
    软磁盘 第一部分: 尺寸物理性能和磁性能
    GB/T 15133.2-1994
    信息处理 数据交换用200mm双频制记录的位密度为13262磁通翻转/弧度道密度为1.9道/毫米的单面
    软磁盘 第二部分: 磁道格式
    GB/T 15137-1994 体效应二极管空白详细规范
    GB/T 15150-1994 产生报文的银行卡 交换报文规范 金融交易内容
    GB/T 15151.1-1994 频率计数器通用技术条件
    GB/T 15151.2-1994 频率计数测试方法
    GB/T 15155-1994 滤波器用压电陶瓷材料通用技术条件
    GB/T 15156-1994 压电陶瓷换能元件总规范
    GB/T 15167-1994 半导体激光光源总规范
    GB/T 15183-1994 按能力批准评定质量的电子设备用电源变压器分规范
    GB/T 15217-1994 同轴电缆屏蔽衰减测量方法 吸收钳法
    GB/T 15271-1994 识别卡 卡产生的信息 金融交易的内容
    GB/T 15277-1994 信息处理 64bit分组密码算法的工作方式
    GB/T 15285-1994 漏泄同轴电缆分规范
    GB/T 15300-1994 电子设备用电位器 第二部分: 空白详细规范 螺杆驱动和旋转预调电位器 评定水平 E
    GB/T 7345-1994 控制微电机基本技术要求
    GB/* 6354-1986 电子元器件详细规范 2CL24, 2CL25, 2CL27,2CL29 型玻璃钝化封装高压硅堆(可供认证用)
    GB/* 5846-1986 滚针轴承 向心滚针和保持架组件
    GB/* 5820.1-1986
    电子元器件详细规范 3DG130A 3DG130B 3DG130C 3DG130D型环境额定高低频放大双极型晶体管
    (可供认证用)
    GB/* 5820.2-1986
    电子元器件详细规范 3DG111B 3DG111C 3DG111E 3DG111F型环境额定高低频放大双极型晶体管
    (可供认证用)
    GB/* 5820.3-1986 电子元器件详细规范 3DG201C 型环境额定高低频放大双极型晶体管 (可供认证用)
    GB/* 5821.1-1986 电子元器件详细规范 3DK106A 3DK106B型开关用双极型晶体管(可供认证用)
    GB/T 5271.8-1993 数据处理词汇 08部分: 控制完整性和安全性
    GB/T 5271.22-1993 数据处理词汇 22部分: 计算器
    GB/T 5271.18-1993 数据处理词汇 18部分 分布式数据处理
    GB/T 3453-1994 数据通信基本型控制规程
    GB/T 3261-1993 信息处理用办公机器和打印机使用的编织打印色带的宽度
    GB/T 2775-1993 手控电子元件轴端尺寸
    GB/T 15431-1995 微电路模块总规范
    GB/T 13419-1992 电子设备用机电开关 第六部分: 分规范 微动开关 (可供认证用)
    GB/T 13420-1992 电子设备用机电开关 第六部分: 空白详细规范 微动开关 (可供认证用)
    GB/T 13841-1992 电子陶瓷件表面粗糙度
    GB/T 14078-1993 氦氖激光器技术条件
    GB/T 14079-1993 软件维护指南
    GB/T 14080-1993 温盘驱动器小型磁头通用技术条件
    GB/T 14081-1993 信息处理用键盘(西文)通用技术条件
    GB/T 14082-1993 9磁道数字磁带机磁头通用技术条件
    GB/T 14083-1993 汉字整字键盘通用技术条件
    GB/T 14242-1993 信息交换用汉字64 64点阵黑体字模集及数据集
    GB/T 14815.1-1993 信息处理 图片编码表示 第一部分: 在七位或八位环境中图片表示的编码原则
    GB/T 14860-1993 通信和电子设备用变压器和电感器总规范
    GB/T 14862-1993 半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法
    GB/T 14863-1993 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法
    GB/T 14864-1993 实芯聚乙烯绝缘射频电缆
    GB/T 14865-1993 SMB型射频同轴连接器
    GB/T 14915-1994 电子数据交换术语
    GB/T 14916-1994 识别卡 物理特性
    GB/T 15020-1994 电子设备用石英晶体元件 空白详细规范 电阻焊石英晶体元件 评定水平E
    GB/T 15122-1994 信息处理系统 未纪录软磁盘的标志
    GB/T 15123-1994 信息处理 数据通信 使用25插针连接器的DTE/DCE 接口备用控制操作
    GB/T 15125-1994 信息技术 数据通信 25插针DTE/DCE 接口连接器及接触件号分配
    GB/T 15129-1994 信息处理系统 开放系统互连 服务约定
    GB/T 15130.1-1994
    信息处理 数据交换用90mm改进调频制记录的位密度为15916 磁通翻转/弧度每面80条磁道的软磁盘
    第一部分:尺寸物理性能和磁性能
    GB/T 15888-1995 UHF 型射频同轴连接器
    GB/T 14241-1993 信息处理 处理机系统总线接口(欧洲总线A)
    GB/T 14085-1993 信息处理系统 计算机系统配置图符号及约定
    GB/T 14110-1993 闸流管与充气整流管总规范 (可供认证用)
    GB/T 14111-1993 闸流管与充气整流管空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 14112-1993 半导体集成电路 塑料双列封装冲制型引线框架规范
    GB/T 14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
    GB/T 14117-1993 彩色液晶显示器件空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 14119-1993 半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白详细规范
    GB/T 14120-1993 单孔轴套安装轴控电子元件的安装尺寸
    GB/T 14122-1993 电子设备用固定电容器 第3 部分: 空白详细规范 片状钽固定电容器 评定水平 E(可供认证用)
    GB/T 14126-1993 显示管防眩玻屏技术要求及试验方法
    GB/T 14127-1993 黑白电视接收机可靠性验证试验 贝叶斯方法
    GB/T 14128-1993 掺铷钇铝石榴石激光棒尺寸系列
    GB/T 14129-1993 半导体集成电路TTL电路系列和品种 PAL系列的品种
    GB/T 14182-1993 变像管和像增管总规范(可供认证用)
    GB/T 14183-1993 变像管和像增强管空白详细规范(可供认证用)
    GB/T 14084-1993 办公事务处理用中西文电子打字机通用技术条件
    GB/T 14243-1993 信息交换用汉字64 64点阵楷体字模集及数据集
    GB/T 14244-1993 信息交换用汉字64 64点阵仿宋体字模集及数据集
    GB/T 14245-1993 信息交换用汉字64 64点阵宋体字模集及数据集
    GB/T 14276-1993 绕接工具总规范
    GB/T 14280-1993 热时间延迟开关总规范
    GB/T 14281-1993 恒温开关总规范
    GB/T 14313-1993 精密硬同轴线及其精密连接器总规范
    GB/T 14394-1993 计算机软件可靠性和可维护性管理
    GB/T 14397-1993 信息处理 DTE/DCE接口处起止式传输的信号质量
    GB/T 14398-1993 数据通信 使用V.24和X.24互换电路的DTE到DTE物理连接的接法
    GB/T 14399-1993 信息处理系统 数据通信 高级数据链路控制规程 与X.25LAPB兼容的DTE数据链路规程的描述
    GB/T 14400-1993 信息处理 数据通信 高级数据链路控制平衡类规程 交换环境中数据链路层地址的决定/协商
    GB/T 14472-1993
    电子设备用固定电容器 第14部分: 分规范 抑制电磁干扰和电源网络连接用固定电容器(可供认证
    用)
    GB/T 14473-1993
    电子设备用固定电容器 第14部分: 空白详细规范 抑制电磁干扰和电源网络连接用固定电容器 评
    定水平D(可供认证用)
    GB/T 14515-1993 有贯穿连接的单双面挠性印制板技术条件
    GB/T 14516-1993 无贯穿连接的单双面挠性印制板技术条件
    GB/T 14557-1993 射频同轴连接器电气试验和测量程序 反射系数
    GB/T 14579-1993 电子设备用固定电容器 第17部分: 分规范 金属化聚丙烯膜介质交流和脉冲固定电容器
    GB/T 14246.1-1993 信息技术 可移植操作系统界面 第一部分: 系统应用程序界面(POSIX.1)
    GB/T 14213-1993 初始图形交换规范
    GB/T 14598.4-1993 电气继电器 第十四部分: 电气继电器触点寿命的试验 触点负载的优先值
    GB/T 14598.5-1993 电气继电器 第十五部分: 电气继电器触点寿命试验 试验设备的特性规范
    GB/T 14598.6-1993 电气继电器 第十八部分: 有或无通用继电器的尺寸
    GB/T 14620-1993 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
    GB/T 14708-1993 挠性印制电路用涂胶聚酯薄膜
    GB/T 14709-1993 挠性印制电路用涂胶聚酰亚胺薄膜
    GB/T 14714-1993 微小型计算机系统设备用开关电源通用技术条件
    GB/T 14715-1993 信息技术设备用不间断电源通用技术条件
    GB/T 14717-1993 信息交换用汉字128 128点阵宋体字模集及数据集
    GB/T 14718-1993 信息交换用汉字128 128点阵黑体字模集及数据集
    GB/T 14719-1993 信息交换用汉字256 256点阵宋体字模集及数据集
    GB/T 14720-1993 信息交换用汉字256 256点阵黑体字模集及数据集
    GB/T 14805-1993 用于行政商业和运输业电子数据交换的应用级语法规则
    GB/T 14814-1993 信息处理 文本和办公系统 标准通用置标语言(SGML)
    GB/T 15947-1995 用于行政商业和运输业的电子数据交换报文设计指南与规则
    GB/T 3788-1995 真空电容器通用技术条件
    GB/T 15649-1995 半导体激光二极管空白详细规范
    GB/T 15654-1995 电子设备用膜固定电阻网络 第1部分:总规范
    GB/T 15273.4-1995 信息处理 八位单字节编码图形字符集 第四部分: 拉丁字母四
    GB/T 9546-1995 电子设备用固定电阻器 第8部分:分规范:片式固定电阻器
    GB/T 15428-1995 电子设备用冷板设计导则
    GB/T 15461-1995 电子设备用机电开关 第3部分: 成列直插封装式开关分规范
    GB/T 15131.3-1995
    信息处理 数据交换用130mm改进调频制记录的位密度为13262磁通翻转/弧度每面80条磁道的软磁盘
    第三部分: 磁道格式B(用于80条磁道)
    GB/T 15650-1995 半导体集成电路系列和品种 CMOS门阵电路系列的品种
    GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管
    GB/T 15651-1995 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件
    GB/T 15124-1994 信息处理系统 数据通信 多链路规程
    GB/T 15648-1995 辉光放电显示管测试方法
    GB/T 15768-1995 电容式湿敏元件与湿度传感器总规范
    GB/T 15121.2-1994 信息处理系统 计算机图形 存储和传送图片描述信息的元文卷 第二部分: 字符编码
    GB/T 15289-1994 数字存储示波器通用技术条件和测试方法
    GB/T 4475-1995 敏感元器件术语
    GB 4943-1995 信息技术设备(包括电气事务设备)的安全
    GB/T 9313-1995 数字电子计算机用阴极射线管显示设备通用技术条件
    GB 15851-1995 信息技术 安全技术 带消息恢复的数字签名方案
    GB 15852-1995 信息技术 安全技术 用块密码算法 作密码校验函数的数据完整性机制
    GB/T 4588.10-1995 印制板 第10部分: 有贯穿连接的刚挠双面印制板规范
    GB/T 6428-1995 氢闸流管测试方法
    GB/T 15862-1995 离子注入机通用技术条件
    GB/T 15871-1995 硬面光掩模基板
    GB/T 15873-1995 半导体设施接口技术文件编写导则
    GB/T 15861-1995 离子束蚀刻机通用技术条件
    GB 15702-1995 电子海图技术规范
    GB/T 3790-1995 荧光显示管测试方法
    GB/T 15653-1995 金属氧化物半导体气敏元件测试方法
    GB/T 15694.1-1995 识别卡 发卡者标识 第1部分: 编号体系
    GB/T 15629.3-1995
    信息处理系统 局域网 第3部分: 带碰撞检测的载波侦听多址访问(CSMA/CD) 访问方法和物理层规

    GB/T 15273.3-1995 信息处理 八位单字节编码图形字符集 第三部分: 拉丁字母三
    GB/T 3389.5-1995 压电陶瓷材料性能测试方法 圆片厚度伸缩振动模式
    GB/T 15564-1995 图文电视广播用汉字编码字符集 香港子集
    GB/T 5998-1994 彩色显像管测试方法
    GB/T 15697-1995 信息处理 按记录组处理顺序文卷的程序流程
    GB/T 15698-1995信息技术 系统之间的远程通信和信息交换 高级数据链路控制(HDLC)规程 通用XID帧信息字段内容
    和格式
    GB/T 3352-1994 人造石英晶体
    GB/T 15652-1995 金属氧化物半导体气敏元件总规范
    GB/T 2658-1995 小型交流通风机技术条件
    GB/T 15853-1995 软件支持环境
    GB/T 15298-1994 电子设备用电位器 第一部分: 总规范
    GB/T 5261-1994 信息处理 七位和八位编码字符集用的控制功能
    GB/T 15157-1994 印制板用频率低于3MHz的连接器 第1 部分: 总规范 一般要求和编制有质量评定的详细规范的导则
    GB/T 2691-1991 电阻器和电容器的标志代码
    GB/T 15176-1994 插入式电子元器件用插座及其附件总规范
    GB/T 15273.1-1994 信息处理 八位单字节编码图形字符集 第一部分: 拉丁字母一
    GB/T 15154-1994 电子陶瓷用氧化铝粉体材料
    GB/T 15301-1994 气体激光器总规范
    GB/T 5271.20-1994 信息技术词汇 20部分 系统开发
    GB/T 15287-1994 抑制射频干扰整件滤波器 第一部分: 总规范
    GB/T 15127-1994 信息处理系统 数据通信 双扭线多点互连
    GB/T 15126-1994 信息处理系统 数据通信 网络服务定义
    GB/T 3187-94 可靠性维修性术语
    GB/T 15274-1994 信息处理系统 开放系统互连 网络层的内部组织结构
    GB/T 15275-1994 8位微型计算机STD总线
    GB/T 15128-1994 信息处理系统 开放系统互连 面向连接的基本会话服务定义
    GB/T 13847-1992 图形信息交换用矢量汉字 楷体字模集及数据集
    GB/T 13446-1992 信息交换用汉字256 256点阵仿宋体字模集及数据集
    GB/T 15732-1995 汉字键盘输入用通用词语集
    GB/T 15889-1995 SSMA型射频同轴连接器
    GB/T 15886-1995 C型射频同轴连接器
    GB/T 15890-1995 SSMB 型射频同轴连接器
    GB/T 15880-1995 电子设备用电位器 第3部分: 分规范 旋转式精密电位器
    GB/T 15883-1995电子设备用膜固定电阻网络 第2部分: 按能力批准程序评定质量的膜电阻网络空白详细规范 评定水
    平E
    GB/T 15891-1995 射频电缆 第四部分: 超屏蔽电缆规范 第一篇: 一般要求和试验方法

    GB/T 12504-1990 计算机软件质量保证计划规范
    GB/T 12505-1990 计算机软件配置管理计划规范
    GB/T 3454-1982 数据终端设备(DTE)和数据电路终接设备(DCE)之间的接口电路定义表
    GB/T 3455-1982 非平衡双流接口电路的电特性
    GB/T 7421-1987 信息处理系统 数据通信 高级数据链路控制规程 规程类别汇编
    GB/T 7496-1987 信息处理系统 数据通信 高级数据链路控制规程 帧结构
    GB/T 7575-1987 数据通信 高级数据链路控制规程 规程要素汇编
    GB/T 9950-1988 数据通信 37插针及9插针DTE/DCE接口连接器和插针分配
    GB/T 9951-1988 数据通信 34插针DTE/DCE接口连接器和插针分配
    GB/T 9952-1988 数据通信 15插针DTE/DCE接口连接器和插针分配
    GB/T 11014-1989 平衡电压数字接口电路的电气特性
    GB/T 11015-1989 数据通信用数据终端设备和自动呼叫设备之间的接口
    GB/T 12057-1989 使用串行二进制数据交换的数据终端设备和数据电路终接设备之间的通用37插针和9 插针接口
    GB/T 12166-1990 非平衡电压数字接口电路的电气特性
    GB/T 13133-1991 数据通信 DTE提供定时的使用X.24 互换电路的DTE到DTE物理连接
    GB/T 12453-1990 信息处理系统 开放系统互连 运输服务定义
    GB/T 12991-1991 信息处理系统 数据库语言
    GB 4793-1984 电子测量仪器安全要求
    GB/T 6587.1-1986 电子测量仪器 环境试验总纲
    GB/T 6587.2-1986 电子测量仪器 温度试验
    GB/T 6587.3-1986 电子测量仪器 湿度试验
    GB/T 6587.4-1986 电子测量仪器 振动试验
    GB/T 6587.5-1986 电子测量仪器 冲击试验
    GB/T 6587.6-1986 电子测量仪器 运输试验
    GB/T 6587.7-1986 电子测量仪器 基本安全试验
    GB/T 6587.8-1986 电子测量仪器 电源频率与电压试验
    GB/T 6592-1986 电子测量仪器误差的一般规定
    GB/T 6593-1986 电子测量仪器质量检验规则
    GB/T 813-1989 冲击试验用示波器和峰值电压表
    GB/T 6833.1-1986 电子测量仪器电磁兼容性试验规范 总则
    GB/T 6833.2-1987 电子测量仪器电磁兼容性试验规范 磁场敏感度试验
    GB/T 6833.3-1987 电子测量仪器电磁兼容性试验规范 静电放电敏感度试验
    GB/T 6833.4-1987 电子测量仪器电磁兼容性试验规范 电源瞬态敏感度试验
    GB/T 6833.5-1987 电子测量仪器电磁兼容性试验规范 辐射敏感度试验
    GB/T 6833.6-1987 电子测量仪器电磁兼容性试验规范 传导敏感度试验
    GB/T 6833.7-1987 电子测量仪器电磁兼容性试验规范 非工作状态磁场干扰试验
    GB/T 6833.8-1987 电子测量仪器电磁兼容性试验规范 工作状态磁场干扰试验
    GB/T 6833.9-1987 电子测量仪器电磁兼容性试验规范 传导干扰试验
    GB/T 6833.10-1987 电子测量仪器电磁兼容性试验规范 辐射干扰试验
    GB/T 11463-1989 电子测量仪器可靠性试验
    GB/T 11464-1989 电子测量仪器术语
    GB/T 11465-1989 电子测量仪器热分布图
    GB/T 9039-1988 10kHz 18.6MHz 传输测试仪技术条件
    GB/T 9317-1988 脉冲信号发生器技术条件
    GB/T 9318-1988 脉冲信号发生器测试方法
    GB/T 11461-1989 频谱分析仪通用技术条件
    GB/T 11462-1989 频谱分析仪测试方法
    GB/* 9038-1988 报纸传真测试样张
    GB/T 12114-1989 高频信号发生器通用技术条件
    GB/T 12115-1989 高频信号发生器测试方法
    GB/T 12116-1989 模拟电子电压表通用技术条件
    GB/T 12117-1989 模拟电子电压表测试方法
    GB/T 12179-1990 噪声发生器通用技术条件
    GB/T 12180-1990 低频信号发生器通用测试方法
    GB/T 12181-1990 低频信号发生器通用技术条件
    GB/T 12498-1990 铷原子频率标准通用技术条件
    GB/T 12499-1990 铷原子频率标准测试方法
    GB/T 13166-1991 电子测量仪器设计余量与模拟误用试验
    GB/T 13183-1991 扫频信号发生器通用技术条件
    GB/T 13184-1991 扫频信号发生器测试方法
    GB/T 13973-1992 半导体管特性图示仪通用技术条件
    GB/T 13974-1992 半导体管特性图示仪测试方法
    GB/T 4070-1983 荧光粉通用测试方法
    GB/T 4071-1983 光致荧光粉测试方法
    GB/T 4072-1983 阴极射线致荧光粉测试方法
    GB/T 4073-1983 荧光粉牌号
    GB/T 4314-1984 吸气剂名词术语
    GB/T 4779.1-1984 彩色显像管用荧光粉 Y22-G3荧光粉
    GB/T 4779.2-1984 彩色显像管用荧光粉 Y22-B2荧光粉
    GB/T 4779.3-1984 彩色显像管用荧光粉 Y22-R4荧光粉
    GB/T 4965-1985 吸气剂分类及型号命名方法
    GB/* 5592-1985 电子元器件结构陶瓷材料的名称和牌号的命名方法
    GB/T 5593-1985 电子元器件结构陶瓷材料
    GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
    GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量泊松比测试方法
    GB/T 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法
    GB/T 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法
    GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
    GB/T 5594.6-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法
    GB/T 5594.7-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 透液性测定方法
    GB/T 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
    GB/* 5595-1985 电容器用陶瓷介质材料的分类及名称和牌号的命名方法
    GB/* 5596-1985 电容器用陶瓷介质材料
    GB/T 5597-1985 固体电介质微波复介电常数的测试方法
    GB/T 5598-1985 氧化铍瓷导热系数测定方法
    GB/T 5838-1986 荧光粉名词术语
    GB/* 6358-1986 电子技术用玻璃名词术语
    GB/* 6359-1986 电子技术用玻璃的牌号命名方法
    GB/T 6452-1986 吸气用锆铝合金粉
    GB/T 6453-1986 吸气用锆铝合金复合带材
    GB/T 6454-1986 吸气用锆铝合金环件和片件
    GB/T 6455-1986 释汞吸气用复合带材
    GB/T 6625-1986 掺氮吸气剂含氮量测试方法
    GB/T 6626.1-1986 释汞吸气剂性能测试方法 释汞吸气剂释汞特性的测试方法
    GB/T 6626.2-1986 释汞吸气剂性能测试方法 释汞吸气剂含汞量的测试方法
    GB/T 6626.3-1986 释汞吸气剂性能测试方法 释汞吸气剂放气量的测试方法
    GB/T 6626.4-1986 释汞吸气剂性能测试方法 释汞吸气剂压粉牢固度的检验方法
    GB/* 7237-1987 铬版
    GB/* 7238-1987 玻璃及铬版表面平整度的测试方法
    GB/* 7239-1987 铬版铬膜和胶膜厚度的测试方法
    GB/* 7240-1987 铬版铬膜表面反射率的测试方法
    GB/* 7241-1987 铬版光密度的测试方法
    GB/T 7265.1-1987 固体电介质微波复介电常数的测试方法 微扰法
    GB/T 7265.2-1987 固体电介质微波复介电常数的测试方法 "开式腔"法
    GB/* 9000.1-1988 电子玻璃化学分析方法总则
    GB/* 9000.2-1988 电子玻璃中二氧化硅的分析
    GB/* 9000.3-1988 电子玻璃中三氧化二硼的分析
    GB/* 9000.4-1988 电子玻璃中氟的分析(离子选择电极测定法)
    GB/* 9000.5-1988 电子玻璃中氧化铅的分析 (滴定法)
    GB/* 9000.6-1988 电子玻璃中氧化钡的分析
    GB/* 9000.7-1988 电子玻璃中氧化铝的分析 (EDTA 络合滴定法)
    GB/* 9000.8-1988 电子玻璃中氧化铝及氧化锌的分析 (EDTA 络合滴定法)
    GB/* 9000.9-1988 电子玻璃中氧化钾氧化钠氧化锂的火焰光度测定法
    GB/* 9000.10-1988 电子玻璃中氧化锂氧化钠和氧化钾的原子吸收分析
    GB/* 9000.11-1988 电子玻璃中氧化钙氧化锶氧化钡氧化镁的原子吸收分析
    GB/* 9000.12-1988 电子玻璃中氧化锌氧化铅氧化铝和三氧化二锑的原子吸收分析
    GB/* 9000.13-1988 电子玻璃中氧化钴氧化镍和二氧化锰的原子吸收分析
    GB/* 9000.14-1988 电子玻璃中氧化铁及二氧化钛的分光光度分析
    GB/* 9000.15-1988 电子玻璃中二氧化锆的分析
    GB/* 9000.16-1988 电子玻璃中三氧化二砷的分析
    GB/* 9000.17-1988 电子玻璃中二氧化锰的分析 (高碘酸钾氧化法)
    GB/T 9394-1988 电子工业用硅酸钾溶液
    GB/* 9395.1-1988 电子工业用硅酸钾溶液 分析方法通则
    GB/* 9395.2-1988 电子工业用硅酸钾溶液中总碱度的测定方法
    GB/* 9395.3-1988 电子工业用硅酸钾溶液中二氧化硅含量的测定方法
    GB/* 9395.4-1988 电子工业用硅酸钾溶液浓度及模数的计算方法
    GB/* 9395.5-1988 电子工业用硅酸钾溶液中铁的测定方法
    GB/* 9395.6-1988 电子工业用硅酸钾溶液中铜的测定方法
    GB/* 9395.7-1988 电子工业用硅酸钾溶液中镍的测定方法
    GB/* 9395.8-1988 电子工业用硅酸钾溶液中重金属(Pb)的测定方法
    GB/* 9395.9-1988 电子工业用硅酸钾溶液中氯化物的测定方法
    GB/* 9395.10-1988 电子工业用硅酸钾溶液中碳酸钾的测定方法
    GB/* 9474.1-1988 显像管玻璃壳残余应力测试方法
    GB/* 9474.2-1988 彩色显像管用屏玻璃色品坐标测试方法
    GB/* 9474.3-1988 彩色显像管用屏玻璃光透射比( 546) 的测试方法
    GB/* 9474.4-1988 彩色显像管玻璃中氧化铈的分析
    GB/* 9474.5-1988 彩色显像管玻璃中氧化铬的分析
    GB/* 9474.6-1988 彩色显像管玻璃中氯的分析
    GB/* 9474.7-1988 彩色显像管玻璃中硫的分析
    GB/* 9475-1988 电真空器件用刚玉粉粒度分布的测定 密度天平法
    GB/* 9488-1988 电真空器件用刚玉粉
    GB/T 9489.1-1988 刚玉粉分析方法通则
    GB/T 9489.2-1988
    刚玉粉中氧化钙氧化镁二氧化硅三氧化二铁二氧化钛的电感耦合高频等离子体发射光谱法测

    GB/T 9489.3-1988 刚玉粉中三氧化二铁氧化钙氧化镁氧化钠氧化钾的原子吸收分光光度测定法
    GB/T 9489.4-1988 刚玉粉中三氧化二铝含量的络合滴定 氟化物释放测定法
    GB/T 9489.5-1988 刚玉粉中二氧化硅的比色测定法
    GB/T 9489.6-1988 刚玉粉中二氧化钛的比色测定法
    GB/T 9489.7-1988 刚玉粉中氯根的目视比浊测定法
    GB/T 9489.8-1988 刚玉粉中碳和硫的测定方法
    GB/T 9489.9-1988 刚玉粉pH值的测定方法
    GB/T 9489.10-1988 刚玉粉灼烧失重的测定方法
    GB/* 9490-1988 电真空器件用刚玉粉牌号命名方法
    GB/T 9505-1988 蒸散型钡吸气剂
    GB/T 9506.1-1988 吸气剂性能测试方法通则
    GB/T 9506.2-1988 蒸散型钡吸气剂得钡量测试方法
    GB/T 9506.3-1988 蒸散型钡吸气剂载料和模中钡量的测定
    GB/T 9506.4-1988 吸气剂放气量测试方法
    GB/T 9506.5-1988 掺氮吸气剂释氮吸气动态曲线测试方法
    GB/T 9506.6-1988 掺氮吸气剂钡膜分布测试方法
    GB/T 9506.7-1988 蒸散型钡吸气剂吸气性能测试方法
    GB/T 9506.8-1988 非蒸散型吸气剂吸气性能测试方法
    GB/T 9506.9-1988 吸气剂装载量测试方法
    GB/T 9506.10-1988 吸气剂压制或烧结牢固度测试方法
    GB/T 9506.11-1988 吸气剂支架焊接强度测试方法
    GB/T 9530-1988 电子陶瓷名词术语
    GB/T 9533-1988 微波固体电介质材料介电特性测试方法 同轴终端短路法
    GB/T 9534-1988 毫米波频段固体电介质材料介电特性测试方法 准光腔法
    GB/* 9619.1-1988 电子器件用纯银钎焊料的分析方法 双硫腙分光光度法测定铅
    GB/* 9619.2-1988 电子器件用纯银钎焊料的分析方法 原子吸收分光光度法测定镁和锌
    GB/* 9619.3-1988 电子器件用纯银钎焊料的分析方法 原子吸收分光光度法测定镉
    GB/* 9619.4-1988 电子器件用纯银钎焊料的分析方法 孔雀绿分光光度法测定锑
    GB/* 9619.5-1988 电子器件用纯银钎焊料的分析方法 邻菲罗啉分光光度法测定铁
    GB/* 9619.6-1988 电子器件用纯银钎焊料的分析方法 马钱子碱-碘化钾分光光度法测定铋
    GB/* 9619.7-1988 电子器件用纯银钎焊料的分析方法 磷钼蓝分光光度法测定磷
    GB/* 9619.8-1988 电子器件用纯银钎焊料的分析方法 燃烧碘量法测定硫
    GB/* 9619.9-1988 电子器件用纯银钎焊料的分析方法 铅铋锌镉铁镁铝锡和锑的化学光谱测定
    GB/* 9620.1-1988 电子器件用银铜钎焊料的分析方法 碘量法测定铜
    GB/* 9620.2-1988 电子器件用银铜钎焊料的分析方法 铅铋锌镉铁镁锆锡和镍的化学光谱测定
    GB/* 9620.3-1988 电子器件用银铜钎焊料的分析方法 邻基二酚紫-溴化十六烷基吡啶分光光度法测定锡
    GB/* 9620.4-1988 电子器件用银铜钎焊料的分析方法 原子吸收分光光度法测定铋
    GB/* 9620.5-1988 电子器件用银铜钎焊料的分析方法 原子吸收分光光度法测定锑
    GB/* 9620.6-1988 电子器件用银铜钎焊料的分析方法 原子吸收分光光度法测定铅
    GB/* 9620.7-1988 电子器件用银铜钎焊料的分析方法 原子吸收分光光度法测定铁镉锌
    GB/* 9620.8-1988 电子器件用银铜钎焊料的分析方法 原子吸收分光光度法测定镁
    GB/* 9621.1-1988 电子器件用金铜及金镍钎焊料的分析方法 EDTA容量法测定铜
    GB/* 9621.2-1988 电子器件用金铜及金镍钎焊料的分析方法 EDTA容量法测定镍
    GB/* 9621.3-1988 电子器件用金铜及金镍钎焊料的分析方法 双硫腙分光光度法测定铅
    GB/* 9621.4-1988 电子器件用金铜及金镍钎焊料的分析方法 磷钼蓝分光光度法测定磷
    GB/* 9621.5-1988 电子器件用金铜及金镍钎焊料的分析方法 原子吸收分光光度法测定锌
    GB/* 9622.1-1988 电子玻璃密度的测试方法 浮沉法
    GB/* 9622.2-1988 电子玻璃平均线热膨胀系数的测试方法
    GB/* 9622.3-1988 电子玻璃热稳定性测试方法
    GB/* 9622.4-1988 电子玻璃软化点测试方法
    GB/* 9622.5-1988 电子玻璃退火点和应变点测试方法
    GB/* 9622.6-1988 电子玻璃高温粘度测试方法
    GB/* 9622.7-1988 电子玻璃抗冲击强度测试方法
    GB/* 9622.8-1988 电子玻璃体积电阻率为100M cm 时的温度
    T@K@-@1@0@0的测试方法
    GB/* 9622.9-1988 电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法
    GB/* 9622.10-1988 电子玻璃直流击穿强度测试方法
    GB/* 9622.11-1988 电子玻璃抗水化学稳定性测试方法
    GB/T 9633-1988 微波频率应用的旋磁材料性能测试方法
    GB/T 10304.1-1988 阴极碳酸盐分析方法通则
    GB/T 10304.2-1988 阴极碳酸盐中碳酸钡含量的测定 重铬酸钾碘量滴定法
    GB/T 10304.3-1988 阴极碳酸盐中碳酸钙含量的络合滴定测定
    GB/T 10304.4-1988 阴极碳酸盐中碳酸钙碳酸锶的原子吸收分光光度测定
    GB/T 10304.5-1988 阴极碳酸盐中硝酸根的测定
    GB/T 10304.6-1988 阴极碳酸盐中钠的原子吸收分光光度测定
    GB/T 10304.7-1988 阴极碳酸盐中盐酸不溶物的测定
    GB/T 10304.8-1988 阴极碳酸盐中铁的测定
    GB/T 10304.9-1988 阴极碳硫盐中氯根的测定GB/T 10304.10
    1988 阴极碳酸盐中硫酸根的测定GB/T 10304.11
    1988 阴极碳酸盐中重金属(以Pb计)的测定GB/T 10304.12
    1988 阴极碳酸盐灼烧失重的测定
    GB/T 10305-1988 阴极碳酸盐粒度分布的测定 离心沉降法
    GB/T 10306-1988 阴极碳酸盐
    GB/T 10307-1988 阴极碳酸盐牌号命名方法
    GB/T 10308-1988 示波管和显示管用Y1荧光粉
    GB/T 10309-1988 示波管和显示管用Y14荧光粉
    GB/T 10310-1988 黑白显像管用Y4-W2荧光粉
    GB/T 10311-1988 黑白显像管用Y4-B1荧光粉
    GB/T 10312-1988 黑白显像管用Y4-Y2荧光粉
    GB/T 10313-1988 雷达指示管用Y16荧光粉
    GB/T 10314-1988 双层屏指示管用Y3荧光粉
    GB/T 10315-1988 双层屏指示管用G11荧光粉
    GB/T 10316-1988 双层屏指示管用G16荧光粉
    GB/T 10317-1988 示波管和显示管用Y10荧光粉
    GB/T 10318-1988 夜视器件和存储管用Y20荧光粉
    GB/* 11247.1-1989 钨绞丝
    GB/* 11247.2-1989 钨加热子
    GB/* 11248-1989 杜美丝
    GB/* 11249-1989 钼基钨靶
    GB/T 11293-1989 固体激光材料名词术语
    GB/* 11294-1989 红外探测材料中半导体光电材料和热释电材料常用名词术语
    GB/T 11295-1989 激光晶体棒型号命名方法
    GB/T 11296-1989 红外探测材料型号命名方法
    GB/T 11297.1-1989 激光棒波前畸变的测量方法
    GB/T 11297.2-1989 激光棒侧向散射系数的测量方法
    GB/T 11297.3-1989 掺钕钇铝石榴石激光棒消光比的测量方法
    GB/T 11297.4-1989 掺钕钇铝石榴石激光棒长脉冲激光阈值及斜率效率的测量方法
    GB/T 11297.5-1989 掺钕钇铝石榴石激光棒连续激光阈值斜率效率和输出功率的测量方法
    GB/T 11297.6-1989 锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法
    GB/T 11297.7-1989 锑化铟单晶电阻率及霍耳系数的测试方法
    GB/T 11297.8-1989 热释电材料热释电系数的测试方法
    GB/T 11297.9-1989 热释电材料介质损耗角正切 tan 的测试方法GB/T 11297.10
    1989 热释电材料居里温度 Tc 的测试方法GB/T 11297.11
    1989 热释电材料介电常数的测试方法GB/T 11297.12
    1989 电光晶体铌酸锂磷酸二氢钾和磷酸二氘钾消光比的测量方法
    GB/* 11446.1-1989 电子级水
    GB/* 11446.2-1989 电子级水术语
    GB/* 11446.3-1989 电子级水检测方法通则
    GB/* 11446.4-1989 电子级水电阻率的测试方法
    GB/* 11446.5-1989 电子级水中痕量金属的原子吸收分光光度测试方法
    GB/* 11446.6-1989 电子级水中痕量二氧化硅的分光光度测试方法
    GB/* 11446.7-1989 电子级水中痕量氯离子的离子色谱测试方法
    GB/* 11446.8-1989 电子级水中总有机碳的测试方法
    GB/* 11446.9-1989 电子级水中微粒的仪器测试方法GB/ 11446.10
    1989 电子级水中细菌总数的滤膜培养测试方法GB/ 11446.11
    1989 电子级水中细菌总数的平皿培养测试方法
    GB/T 11496.1-1989 彩色显示管用Y30-G1 荧光粉
    GB/T 11496.2-1989 彩色显示管用Y30-B1荧光粉
    GB/T 11496.3-1989 彩色显示管用Y30-R1荧光粉
    GB/* 12059-1989 电子工业用合成纤维防静电绸性能及试验方法
    GB/* 12061-1989 电子元器件用镀锡圆引线通用技术条件
    GB/T 13842-1992 掺钕钇铝石榴石激光棒
    GB/T 13843-1992 蓝宝石单晶抛光衬底片
    GB/T 14015-1992 硅蓝宝石外延片
    GB/T 4098.1-1983 射频电缆电晕试验方法
    GB/T 4098.2-1983 射频电缆电容和电容不平衡测量方法
    GB/T 4098.3-1983 射频电缆特性阻抗测量方法
    GB/T 4098.4-1983 射频电缆衰减常数测量方法
    GB/T 4098.5-1983 射频电缆电容稳定性试验方法
    GB/T 4098.6-1983 射频电缆衰减稳定性试验方法
    GB/T 4098.7-1983 射频电缆高温试验方法
    GB/T 4098.8-1983 射频电缆低温试验方法
    GB/T 4098.9-1983 射频电缆流动性试验方法
    GB/T 4098.10-1983 射频电缆尺寸稳定性试验方法
    GB/T 6643-1986 通用硬同轴传输线及其法兰连接器总规范
    GB/* 6644-1986 通用硬同轴传输线及其法兰连接器详细规范
    GB/T 7556-1987 对称电缆60路载波系统进网特性要求
    GB/T 7557-1987 1.2/4.4mm标准同轴电缆300路载波系统进网特性要求
    GB/T 9023-1988 射频同轴电缆屏蔽效率测量方法 (转移阻抗法)
    GB/* 11322-1989 射频同轴电缆设计指南
    GB/T 11323-1989 电缆分配系统用单同轴电缆一般要求和试验
    GB/T 12269-1990 射频电缆总规范
    GB/T 12792-1991 射频电缆阻抗均匀性测量方法
    GB/* 9022-1988 手或动力驱动的压接工具总规范
    GB/T 9531.1-1988 电子陶瓷零件技术条件
    GB/T 9531.2-1988 A 类瓷件技术条件
    GB/T 9531.3-1988 B 类瓷件技术条件
    GB/T 9531.4-1988 C 类瓷件技术条件
    GB/T 9531.5-1988 D 类瓷件技术条件
    GB/T 9531.6-1988 E 类瓷件技术条件
    GB/T 9531.7-1988 F 类瓷件技术条件
    GB/T 12635-1990 碳膜电阻器用陶瓷基体
    GB/T 3047.2-1992 高度进制为44.45mm 的面板机架和机柜的基本尺寸系列
    GB/T 3047.4-1986 高进制为44.45mm 的插箱插件的基本尺寸系列
    GB/T 3047.6-1986 电子设备台式机箱基本尺寸系列
    GB/T 6431-1986 通信设备条形机架基本尺寸
    GB/T 7269-1987 电子设备控制台的布局型式和基本尺寸
    GB/T 13840-1992 晶片承载器
    GB/T 13947-1992 电子元器件塑料封装设备通用技术条件
    GB/* 11481-1989 掩模对准曝光机通用技术条件
    GB/* 11491-1989 立式涡轮分子泵通用技术条件
    GB/T 15936.1-1995 信息处理 文本与办公系统 办公文件体系结构(ODA)和交换格式 第1部分:引言和总则
    GB/T 15290-1994 电子设备用电源变压器和滤波扼流圈总技术条件
    GB/T 15288-1994 抑制射频干扰整件滤波器 第二部分: 分规范 试验方法的选择和一般要求
    GB/T 15286-1994 端接件总规范
    GB/T 15297-1994 微电路模块机械和气候试验方法
    GB/T 15299-1994 电子设备用电位器 第二部分: 分规范 螺杆驱动和旋转预调电位器
    GB/T 15312-1994 制造业自动化 术语
    GB/T 15396-1994
    射频电缆和连接器用六角和正方形压模腔体压头标准规外导体压接套和中心接触件压接导线筒
    的尺寸
    GB/T 15426-1994 收讯放大电子管空白详细规范
    GB/T 15427-1994 彩色显示管测试方法
    GB/T 15429-1995 电子设备用复塑铝板
    GB/T 15430-1995 红外探测器环境试验方法
    GB/T 15448-1995 电子设备用固定电容器 第19部分: 分规范 金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流片式固定电容器
    GB/T 15449-1995 管壳额定开关用场效应晶体管 空白详细规范
    GB/T 15450-1995 硅双栅场效应晶体管 空白详细规范
    GB/T 15462-1995 电子设备用机电开关 第3-1部分: 成列直插封装式开关 空白详细规范
    GB/T 15471-1995 逻辑分析仪通用技术条件和测试方法
    GB/T 15472-1995 失真度测量仪通用技术条件和测试方法
    GB/T 15509-1995 半导体集成电路系列和品种 彩电遥控器用电路系列的品种
    GB/T 15515-1995 光功率计技术条件
    GB/T 15529-1995 半导体发光数码管空白详细规范
    GB/T 15532-1995 计算机软件单元测试
    GB/T 15535-1995 信息处理 单命中判定表格规范
    GB/T 15536-1995 信息处理 SGML支持设施 SGML文件交换格式(SDIF)
    GB/T 15537-1995 信息处理 SGML 支持设施 公用文本拥有者标识符的登记规程
    GB/T 15538-1995 软件工程标准分类法
    GB/T 15637-1995 数字多用表校准仪通用技术条件
    GB/T 15695-1995 信息处理系统 开放系统互连 面向连接的表示服务定义
    GB/T 15696-1995 信息处理系统 开放系统互连 面向连接的表示协议规范
    GB/T 14598.3-1993 电气继电器 第五部分: 电气继电器的绝缘试验
    GB/T 14184-1993 变像管和像增强管测试方法
    GB/T 14137-1993 光纤机械式固定接头插入损耗测试方法
    GB/T 14113-1993 半导体集成电路封装术语
    GB/T 14114-1993 半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理
    GB/T 14121-1993 电子设备用固定电容器 第3 部分: 分规范 片状钽固定电容器
    GB/T 14136.1-1993 纤维光学滤光器 第一部分: 总规范
    GB/T 14186-1993 充气稳压管总规范(可供认证用)
    GB/T 14275-1993 纤维光学调制器 第二部分: 分规范 波导电光调制器 (可供认证用)
    GB/T 14279-1993 交流等离子体显示器件空白详细规范(可供认证用)
    GB/T 14278-1993 电子设备热设计术语
    GB/T 12200.2-1994 汉语信息处理词汇 02部分: 汉语和汉字
    GB/T 10232-1994 电气继电器 第7部分: 有或无机电继电器测试程序
    GB/T 15278-1994 信息处理 数据加密 物理层互操作性要求
    GB/T 15276-1994 信息处理系统 系统间信息交换 DTE/DCE接口处同步传输的信号质量
    GB/T 15175-1994 固体激光器主要参数测试方法
    GB/T 15174-1994 可靠性增长大纲
    GB/T 15158-1994 音响设备用连接器系列和品种
    GB/T 15152-1994 脉冲噪声干扰引起移动通信性能降级的评定方法
    GB/T 15138-1994 膜集成电路和混合集成电路外形尺寸
    GB/T 15136-1994 半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理

    GB/T 11292-1989 数字控制机床的数控处理程序 输出2000型记录辅元素 (后置处理命令)
    GB/T 12177-1990 数子控制机床的数控处理程序输出 逻辑结构
    GB/T 12646-1990 数字控制机床的数控处理程序输入 基本零件源程序参考语言
    GB/T 12856-1991 程序设计语言 BASIC 子集
    GB/T 2901-1992 书目信息交换用磁带格式
    GB/T 7574-1987 信息处理交换用磁带标号和文卷结构
    GB/T 12055-1989 信息处理 信息交换用的盒式磁带和卡式磁带的标号和文卷结构
    GB/T 13703-1992 信息处理 信息交换用软磁盘盘卷和文卷结构
    GB/T 12500-1990 信息处理系统 开放系统互连 面向连接的运输协议规范
    GB/T 8567-1988 计算机软件产品开发文件编制指南
    GB/T 9385-1988 计算机软件需求说明编制指南
    GB/T 9386-1988 计算机软件测试文件编制规范

    GB/T 3789.31-1991 发射管电性能测试方法 同步脉冲压缩的测试方法
    GB/T 6257-1986 阳极耗散功率不大于1kW 的小功率发射管空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 6258-1986 盘封电子管空白详细规范
    GB/* 7273.1-1987 盘封管电性能测试方法 总则
    GB/* 7273.2-1987 盘封管电性能测试方法 频率响应特性的测试方法
    GB/* 7273.3-1987 盘封管电性能测试方法 频率位置的测试方法
    GB/* 7273.4-1987 盘封管电性能测试方法 谐振腔无载品质因数 Q 的测试方法
    GB/* 7273.5-1987 盘封管电性能测试方法 自中和频率的测试方法
    GB/* 7273.6-1987 盘封管电性能测试方法 功率增益的测试方法
    GB/* 7273.7-1987 盘封管电性能测试方法 调幅调相转换系数的测试方法
    GB/* 7273.8-1987 盘封管电性能测试方法 三音互调失真的测试方法
    GB/T 9431-1988 阳极耗散功率大于 1kW的玻壳发射管空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 9432-1988 工业加热用四极管空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 9587-1988 阳极耗散功率大于1kW的金属陶瓷发射管空白详细规范(可供认证用)
    GB/* 11448-1989 电子元器件详细规范 FC-306 型电子管 (可供认证用)
    GB/* 11488-1989 电子元器件详细规范 FU-250F 型电子管 (可供认证用)
    GB/* 11489-1989 电子元器件详细规范 FU-100F 型电子管 (可供认证用)
    GB/T 12854-1991 脉冲调制管空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 12855-1991 小功率发射管的使用和维护
    GB/* 4777-1984 微波电子器件引线颜色标志
    GB/* 9042-1988 EY 501型功率行波管技术条件
    GB 9043-1988 通信设备过电压保护用气体放电管通用技术条件
    GB/T 9584-1988 电压调谐磁控管电性能测试方法
    GB/T 9601-1988 脉冲磁控管电性能测试方法
    GB/T 9602-1988 连续波磁控管电性能测试方法
    GB/T 9603-1988 充气微波开关管电性能测试方法
    GB/T 11487-1989 捷变频脉冲磁控管电性能测试方法
    GB/T 12852-1991 磁控管总规范 (可供认证用)
    GB/T 12853-1991 连续波磁控管空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 3212-1982 黑白电视显像管测试方法
    GB/T 5961-1986 彩色显像管空白详细规范(可供认证用)
    GB/T 5999-1986 示波管和指示管测试方法
    GB/T 6206-1986 黑白显像管空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 6207-1986 示波管和指示管空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 6255-1986 空间电荷控制电子管总规范 (可供认证用)
    GB/* 6267-1986 电子元器件详细规范 37SX101Y22-DC01型彩色显像管
    GB/* 6268-1986 电子元器件详细规范 56SX101Y22-DC03型彩色显像管
    GB/T 6585-1986 通用阴极射线示波器测试方法
    GB/T 6586-1986 通用阴极射线示波器技术条件
    GB/* 7018-1986 电子元器件详细规范 35SX5B 型黑白显像管(可供认证用)
    GB/* 7272-1987 电子元器件详细规范 47SX101Y22-DC05 型彩色显像管 (可供认证用)
    GB/* 8556-1987 阴极射线管有效屏面缺陷规范
    GB/* 8557-1987 阴极射线管玻壳检验规范
    GB/T 9435-1988 彩色显像管有效屏面尺寸
    GB/* 9585-1988 阴极射线管静电偏转极的命名方法
    GB/T 11447-1989 光学纤维面板测试方法
    GB/T 11478-1989 摄像管总规范(可供认证用)
    GB/T 11479-1989 摄像管空白详细规范(可供认证用)
    GB/T 11480-1989 摄像管测试方法
    GB/* 11484-1989 阴极射线管参考线量规尺寸
    GB/* 11485-1989 阴极射线管外形图的绘制
    GB/T 11490-1989 彩色显像管管基尺寸
    GB/T 12567-1990 直观存储管测试方法
    GB/T 12568-1990 直观存储管分规范 (可供认证用)
    GB/T 12569-1990 直观存储管空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 12570-1990 单色显示管空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 12571-1990 单色显示管测试方法
    GB/T 13170.1-1991 反射式电视测试图 综合测试图
    GB/T 13170.2-1991 反射式电视测试图 线性测试图 A型
    GB/T 13170.3-1991 反射式电视测试图 线性测试图 B型
    GB/T 13170.4-1991 反射式电视测试图 高频特性测试图
    GB/T 13170.5-1991 反射式电视测试图 中频特性测试图
    GB/T 13170.6-1991 反射式电视测试图 余像测试图
    GB/T 13170.7-1991 反射式电视测试图 棋盘格测试图
    GB/T 13170.8-1991 反射式电视测试图 辐值响应测试图
    GB/T 13170.9-1991 反射式电视测试图 重合测试图 A型GB/T 13170.10
    1991 反射式电视测试图 重合测试图 B型GB/T 13170.11
    1991 反射式电视测试图 圆域测试图GB/T 13170.12
    1991 反射式电视测试图 辐射条测试图GB/T 13170.13
    1991 反射式电视测试图 区域测试图GB/T 13170.14
    1991 反射式电视测试图 灰度测试图 A型GB/T 13170.15
    1991 反射式电视测试图 灰度测试图 B型
    GB/T 14010-1992 阴极射线管玻壳试验方法
    GB/T 14011-1992 阴极射线管X射线辐射测试方法
    GB/T 14012-1992 黑白显像管玻壳总规范 (可供认证用)
    GB/T 5295-1985 光电阴极光谱响应特性系列
    GB/T 5960-1986 阴极射线管总规范(可供认证用)
    GB/T 7270-1987 光电倍增管测试方法
    GB/T 7271-1987 光电管测试方法
    GB/T 9430-1988 荧光数码显示管亮度稳定性试验方法
    GB/T 9433-1988 过电压保护气体放电管总规范 (可供认证用)
    GB/T 9434-1988 过电压保护气体放电管测试方法
    GB/T 9586-1988 荧光数码显示管加速寿命试验方法
    GB/T 9588-1988 盖革-弥勒计数管测试方法
    GB/T 11482-1989 交流等离子体显示器件总规范 (可供认证用)
    GB/T 11483-1989 交流等离子体显示器件测试方法
    GB/T 12078-1989 X 射线管总规范 (可供认证用)
    GB/T 12079-1989 X 射线管光电性能测试方法
    GB/T 12564-1990 光电倍增管总规范 (可供认证用)
    GB/T 12846-1991 脉冲闸流管总规范 (可供认证用)
    GB/T 12847-1991 氢闸流管空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 13065-1991 过电压保护气体放电管空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 13706-1992 光电管总规范 (可供认证用)
    GB/T 13707-1992 光电管空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 13708-1992 光电倍增管空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 13709-1992 检测用射线管空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 13710-1992 分析用射线管空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 13943-1992 荧光显示管总规范(可供认证用)
    GB/T 13944-1992 荧光显示管空白详细规范(可供认证用)
    GB/T 13945-1992 辉光放电显示管总规范(可供认证用)
    GB/T 13946-1992 辉光放电显示管空白详细规范(可供认证用)
    GB/T 249-1989 半导体分立器件型号命名方法
    GB/T 4589.1-1989 半导体器件 分立器件和集成电路总规范 (可供认证用)
    GB/T 4938-1985 半导体分立器件接收和可靠性
    GB/* 11499-1989 半导体分立器件文字符号
    GB/T 12300-1990 功率晶体管安全工作区测试方法
    GB/T 12560-1990 半导体器件 分立器件分规范 (可供认证用)
    GB/T 6570-1986 微波二极管测试方法
    GB/T 6588-1986 通用信号和(或)开关半导体二极管空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 6589-1986 电压调整和电压基准二极管 (包括温度补尝精密基准二极管) 空白详细规范(可供认证用)
    GB/* 6802-1986
    电子元器件详细规范 2CL61 2CL62 2CL63 2CL64 2CL65 2CL66 2CL67 2CL68型玻璃钝化封装
    高压硅堆
    GB/* 7152-1987 电子元器件详细规范 2CZ201 2CZ202 2CZ203型开关整流二极管 (可供认证用)
    GB/* 9524-1988 电子元器件详细规范 2CK111 2CK112 2CK113型硅开关二极管 (可供认证用)
    GB/* 9525-1988 电子元器件详细规范 2CC21 2CC26型硅调谐变容二极管 (可供认证用)
    GB/* 9526-1988 电子元器件详细规范 2CC22 2CC27型硅调谐变容二极管 (可供认证用)
    GB/* 9527-1988 电子元器件详细规范 2CC23 2CC28型硅调谐变容二极管 (可供认证用)
    GB/* 9528-1988 电子元器件详细规范 2CC24 2CC29型硅调频变容二极管 (可供认证用)
    GB/* 9529-1988 电子元器件详细规范 2CC25 2CC30型硅频段转换变容二极管 (可供认证用)
    GB/* 9595-1988 电子元器件详细规范 2CW 412 473型硅电压调整二极管
    GB/* 9596-1988 电子元器件详细规范 2CW 380 411型硅电压调整二极管(可供认证用)
    GB/T 12562-1990 PIN 二极管空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 13063-1991 电流调整和电流基准二极管空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 13066-1991 单结晶体管空白详细规范
    GB/* 7510-1987 电子元器件详细规范 半导体集成电路 CDA7520 型10位数/ 模转换器 (可供认证用)
    GB/T 6217-1986 高低频放大环境额定的双极型晶体管空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 6218-1986 开关用双极型晶体管空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 6256-1986 工业加热三极管空白详细规范 (可供认证用)
    GB/* 6353-1986 电子元器件详细规范 3DG79 型正向自动增益控制高频低噪声晶体管
    GB/* 6355-1986 电子元器件详细规范 3CG21B, 3CG21C型高低频放大环境额定的双极型晶体管(可供认证用)
    GB/* 6356-1986
    电子元器件详细规范 3C 201A, 3C 201B,3C 201C 型高低频放大环境额定的双极型晶体管(可供认
    证用)
    GB/* 6357-1986
    电子元器件详细规范 3D 201A, 3D 201B, 3D 201C型高低频放大环境额定的双极型晶体管(可供认
    证用)
    GB/* 7147-1987 电子元器件详细规范 3DG80型高低频放大环境额定双极型晶体管(可供认证用)
    GB/* 7148-1987
    电子元器件详细规范 CS111 CS112 CS113 CS114 CS115 CS116 型单栅结型场效应晶体管 (可
    供认证用)
    GB/* 7149-1987 电子元器件详细规范 3DK105A 3DK105B型开关用双极型晶体管(可供认证用)
    GB/* 7150-1987 电子元器件详细规范 3DK107A 3DK107B型开关用双极型晶体管(可供认证用)
    GB/* 7151-1987 电子元器件详细规范 3DG131A 3DG131B 3DG131C 型高频放大环境额定双极型晶体管 (可供认证用)
    GB/T 7576-1987 高频放大管壳额定的双极型晶体管 空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 7577-1987 低频放大管壳额定的双极型晶体管 空白详细规范 (可供认证用)
    GB/* 7578-1987 电子元器件详细规范 3DA150B 3DA150C型高频放大管壳额定双极型晶体管 (可供认证用)
    GB/* 7579-1987 电子元器件详细规范 3DD201型低频放大管壳额定双极型晶体管(可供认证用)
    GB/* 7580-1987 电子元器件详细规范 3DD102B 型低频放大管壳额定的双极型晶体管 (可供认证用)
    GB/T 7581-1987 半导体分立器件外形尺寸
    GB/* 9500-1988 电子元器件详细规范 3DG107型高频放大环境额定双极型晶体管 (可供认证用)
    GB/* 9507-1988 电子元器件详细规范 3CG844型硅PNP 环境额定高频放大晶体管 (可供认证用)
    GB/* 9508-1988 电子元器件详细规范 3CG778型硅PNP 环境额定高频放大晶体管 (可供认证用)
    GB/* 9509-1988 电子元器件详细规范 3DA1514型硅NPN环境额定高频放大晶体管 (可供认证用)
    GB/* 9510-1988 电子元器件详细规范 3DG2271 型硅NPN 环境额定高频放大晶体管 (可供认证用)
    GB/* 9511-1988 电子元器件详细规范 3DD401型硅NPN 管壳额定低频放大晶体管 (可供认证用)
    GB/* 9512-1988 电子元器件详细规范 3CD546型硅PNP 管壳额定低频放大晶体管 (可供认证用)
    GB/* 9513-1988 电子元器件详细规范 3DD100C型硅PNP管壳额定低频放大晶体管 (可供认证用)
    GB/* 9514-1988 电子元器件详细规范 3DD203型硅NPN 管壳额定低频放大晶体管 (可供认证用)
    GB/* 9515-1988 电子元器件详细规范 3DD205A型硅NPN管壳额定低频放大晶体管 (可供认证用)
    GB/* 9516-1988 电子元器件详细规范 3DG2636型硅NPN环境额定高频放大晶体管 (可供认证用)
    GB/* 9517-1988 电子元器件详细规范 3DG3077型硅NPN环境额定高频放大晶体管 (可供认证用)
    GB/* 9518-1988 电子元器件详细规范 3DD204型硅NPN 管壳额定低频放大晶体管 (可供认证用)
    GB/* 9519-1988 电子元器件详细规范 3DD207型硅NPN 管壳额定低频放大晶体管 (可供认证用)
    GB/* 9521-1988 电子元器件详细规范 3DD325型硅NPN 环境额定低频放大晶体管 (可供认证用)
    GB/* 9522-1988 电子元器件详细规范 3DG1825型硅NPN环境额定高频放大晶体管 (可供认证用)
    GB/* 10271-1988 电子元器件详细规范 3DG162型高频放大环境额定双极型晶体管 (可供认证用)
    GB/* 10272-1988 电子元器件详细规范 3DG182型高频放大环境额定双极型晶体管 (可供认证用)
    GB/* 10273-1988 电子元器件详细规范 3DG140型高频放大环境额定双极型晶体管 (可供认证用)
    GB/* 10279-1988 电子元器件详细规范 3DG3130 型高频放大环境额定双极型晶体管 (可供认证用)
    GB/T 4023-1986 半导体分立器件 第2部分:整流二极管
    GB/T 4024-1983 半导体器件反向阻断三极晶闸管的测试方法
    GB/T 4939-1985 普通整流管
    GB/T 4940-1985 普通晶闸管
    GB/* 6259-1986 电子元器件详细规范 2CN41 型硅快开关整流二极管 (可供认证用)
    GB/T 6351-1986 100A以下环境和管壳额定整流二极管 (包括雪崩整流二极管) 空白详细规范(可供认证用)
    GB/T 6352-1986 100A以下环境和管壳额定的反向阻断三极晶体闸流管(闸流晶体管)空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 6590-1986 100A以下环境和管壳额定的双向三极晶体闸流管空白详细规范 (可供认证用)
    GB/* 8558-1987 电子元器件详细规范 2CN31D型硅开关整流二极管
    GB/T 9436-1988 液晶显示器件参数符号
    GB/* 9494-1988 电子元器件详细规范 2CZ321型环境额定硅整流二极管 (可供认证用)
    GB/* 9495-1988 电子元器件详细规范 2CZ322型环境额定硅整流二极管 (可供认证用)
    GB/* 9496-1988 电子元器件详细规范 2CZ33 型环境额定硅整流二极管 (可供认证用)
    GB/* 9497-1988 电子元器件详细规范 2CZ323型环境额定硅整流二极管 (可供认证用)
    GB/* 9498-1988 电子元器件详细规范 2CZ34Q型环境额定硅整流二极管 (可供认证用)
    GB/* 9499-1988 电子元器件详细规范 2CK120型硅开关二极管 (可供认证用)
    GB/* 9503-1988 电子元器件详细规范 3CT320型管壳额定反向阻断三极晶体闸流管 (可供认证用)
    GB/* 9504-1988 电子元器件详细规范 3CT315型管壳额定雪崩三极晶体闸流管 (可供认证用)
    GB/* 9523-1988 电子元器件详细规范 QL62型硅单相桥式整流器 (可供认证用)
    GB/T 6219-1986 1GHz 5W 以下的单栅场效应晶体管空白详细规范(可供认证用)
    GB/* 9501-1988 电子元器件详细规范 4CS122型硅高频双绝缘栅场效应晶体管 (可供认证用)
    GB/* 9502-1988 电子元器件详细规范 4CS103型硅高频双极型栅场效应晶体管 (可供认证用)
    GB/* 10274-1988 电子元器件详细规范 4CS119型硅高频双绝缘栅场效应晶体管 (可供认证用)
    GB/* 10275-1988 电子元器件详细规范 4CS1191 型硅高频双绝缘栅场效应晶体管 (可供认证用)
    GB/* 10276-1988 电子元器件详细规范 4CS142型硅高频双绝缘栅场效应晶体管 (可供认证用)
    GB/* 10277-1988 电子元器件详细规范 4CS1421 型硅高频双绝缘栅场效应晶体管 (可供认证用)
    GB/* 10278-1988 电子元器件详细规范 CS422OA 型单栅N沟结型场效应晶体管 (可供认证用)
    GB/T 3951-1983 液晶显示器件型号命名方法
    GB/T 4619-1984 扭曲向列型液晶显示器件测试方法
    GB/T 6250-1986 液晶显示器件名词术语
    GB/T 6251-1986 液晶显示器件外形尺寸标注及引线排布规定
    GB/T 7290-1987 扭曲向列型动态驱动液晶显示器件测试方法
    GB/T 12848-1991 扭曲向列型液晶显示器件总规范 (可供认证用)
    GB/T 12849-1991 钟表用扭曲向列型液晶显示器件空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 12850-1991 计算器用扭曲向列型液晶显示器件空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 12851-1991 仪器仪表用扭曲向列型液晶显示器件空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 12565-1990 半导体器件 光电子器件分规范 (可供认证用)
    GB/T 4799-1984 气体激光器型号命名方法
    GB/T 4931-1985 氦氖激光器系型谱
    GB/T 4932-1985 二氧化碳激光器系列型谱
    GB/T 7257-1987 氦氖激光器参数测试方法
    GB/T 11153-1989 激光小功率计性能检测方法
    GB/T 12082-1989 气体激光器文字符号
    GB/T 12083-1989 气体激光器电源系列
    GB/T 12507-1990 光纤光缆连接器 第一部分: 总规范
    GB/T 12511-1990 纤维光学开关 第一部分: 总规范(可供认证用)
    GB/T 12512-1990 纤维光学衰减器 第一部分: 总规范(可供认证用)
    GB/* 9520-1988 电子元器件详细规范 3DD200型硅NPN 低频放大用管壳额定双极型晶体管 (可供认证用)
    GB/T 13265-1991 纤维光学隔离器 总规范 (可供认证用)
    GB/T 13712-1992 纤维光学调制器 第一部分总规范 (可供认证用)
    GB/T 13713-1992 纤维光学分路器 第一部分总规范 (可供认证用)
    GB/T 13714-1992 纤维光学分路器 第三部分分规范 至个波长复用器解复用器 (可供认证用)
    GB/T 13739-1992 激光辐射横模的鉴别方法
    GB/T 13740-1992 激光辐射发散角测试方法
    GB/T 13741-1992 激光辐射光束直径测试方法
    GB/T 13863-1992 激光辐射功率测试方法
    GB/T 13864-1992 激光辐射功率稳定度测试方法
    GB/T 4654-1984 碳化硅锆英砂陶瓷类红外辐射加热器通用技术条件
    GB/T 13583-1992 红外探测器外形尺寸系列
    GB/T 13584-1992 红外探测器参数测试方法
    GB/* 9492-1988 电子元器件详细规范 FG341052 FG343053型半导体绿色发光二极管
    GB/* 9493-1988 电子元器件详细规范 FG313052 FG314053 FG313054 FG314055型半导体红色发光二极管
    GB/T 12561-1990 发光二极管空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 3430-1989 半导体集成电路型号命名方法
    GB/T 8976-1988 膜集成电路和混合膜集成电路总规范 (可供认证用)
    GB/T 9178-1988 集成电路术语
    GB/* 9612-1988 半导体电视集成电路图象通道电路测试方法的基本原理
    GB/* 9613-1988 半导体电视集成电路伴音通道电路测试方法的基本原理
    GB/* 9614-1988 半导体电视集成电路行场扫描电路测试方法的基本原理
    GB/* 9615-1988 半导体电视集成电路视频信号和色信号处理电路测试方法的基本原理
    GB/T 11498-1989 膜集成电路和混合膜集成电路分规范 采用鉴定批准程序 (可供认证用)
    GB/T 12750-1991 半导体集成电路分规范 (不包括混合电路) (可供认证用)
    GB/T 12842-1991 膜集成电路和混合膜集成电路术语
    GB/T 12843-1991 半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理
    GB/T 13062-1991 膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(可供认证用)
    GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
    GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
    GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法和基本原理
    GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
    GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
    GB/* 3431.1-1982 半导体集成电路文字符号 电参数文字符号
    GB/T 3431.2-1986 半导体集成电路文字符号 引出端功能符号
    GB/T 3432.1-1989 半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74系列的品种
    GB/T 3432.2-1989 半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74H 系列的品种
    GB/T 3432.3-1989 半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74S 系列的品种
    GB/T 3432.4-1989 半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74LS系列的品种
    GB/T 3433-1982 半导体集成电路HTL电路系列和品种
    GB/T 3434-1986 半导体集成电路ECL电路系列和品种
    GB/T 3435-1987 半导体集成CMOS电路系列和品种 4000系列的品种
    GB/T 3436-1986 半导体集成电路运算放大器系列和品种
    GB/T 3437-1982 半导体集成电路MOS存储器系列和品种
    GB/T 3438-1982 半导体集成电路双极型存储器系列和品种
    GB/* 3439-1982 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
    GB/* 3440-1982 半导体集成电路HTL电路测试方法的基本原理
    GB/* 3441-1982 半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理
    GB/* 3442-1986 半导体集成电路运算 (电压) 放大器测试方法的基本原理
    GB/* 3443-1982 半导体集成电路 MOS随机存储器测试方法的基本原理
    GB/* 3444-1982 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理
    GB/* 3834-1983 半导体集成电路 CMOS 电路测试方法的基本原理
    GB/T 3835-1983 半导体集成电路接口电路系列和品种
    GB/* 4377-1984 半导体集成电路 稳压器测试方法的基本原理
    GB/T 4378-1984 半导体集成电路 c 6800/ c 6809微处理机电路系列和品种
    GB/* 4590-1984 半导体集成电路机械和气候试验方法
    GB/T 4379-1984 半导体集成电路 c 8080/ c 8085微处理机电路系列和品种
    GB/* 4719-1984 半导体集成电路新产品定型鉴定的程序规则
    GB/T 4855-1984 半导体集成电路线性放大器系列和品种
    GB/* 5228-1985 半导体集成电路音响电路系列和品种
    GB/* 5229-1985 半导体集成电路电视机电路系列和品种
    GB/T 5965-1986 半导体集成电路双极型门电路空白详细规范
    GB/* 6304-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路CD7176CP伴音中频放大电路 (可供认证用)
    GB/* 6305-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路CD7609CP行场扫描电路 (可供认证用)
    GB/T 6647-1986 半导体集成电路4位微型机电路系列和品种
    GB/T 6648-1986 半导体集成电路静态读/ 写存储器空白详细规范(可供认证用)
    GB/T 6649-1986 半导体集成电路外壳总规范
    GB/* 6793-1986 半导体集成接口电路读出放大器测试方法的基本原理
    GB/* 6794-1986 半导体集成接口电路磁芯存储器驱动器测试方法的基本原理
    GB/* 6795-1986 半导体集成接口电路外围驱动器测试方法的基本原理
    GB/* 6796-1986 半导体集成接口电路线电路测试方法的基本原理
    GB/* 6797-1986 半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理
    GB/* 6798-1986 半导体集成接口电路电压比较器测试方法的基本原理
    GB/* 6799-1986 半导体集成接口电路显示驱动器测试方法的基本原理
    GB/T 6800-1986 半导体集成音响电路音频功率放大器测试方法的基本原理
    GB/T 6811-1986 半导体集成非线性电路系列和品种 数字/ 模拟转换器和模拟/ 数字转换器的品种
    GB/T 6812-1986 半导体集成非线性电路系列和品种 模拟乘- 除法器的品种
    GB/T 6813-1986 半导体集成非线性电路系列和品种 时基电路的品种
    GB/T 6814-1986 半导体集成非线性电路系列和品种 模拟开关的品种
    GB/T 6815-1986 半导体集成非线性电路系列和品种 锁相环的品种
    GB/* 7005-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1000型TTL四2输入与非门 (可供认证用)
    GB/* 7006-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1002型TTL四2输入与非门 (可供认证用)
    GB/* 7007-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1004型 TTL六反相器 (可供认证用)
    GB/* 7008-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1008型TTL四2输入与非门 (可供认证用)
    GB/* 7009-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1010型TTL三3输入与非门 (可供认证用)
    GB/* 7010-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1020型TTL双4输入与非门 (可供认证用)
    GB/* 7011-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1027型TTL三3输入与非门 (可供认证用)
    GB/* 7012-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1030型TTL8输入与非门 (可供认证用)
    GB/* 7013-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1040型TTL双4输入与非缓冲器 (可供认证用)
    GB/* 7014-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1054型TTL4路2-2-2-2 输入与或非门 (可供认证用)
    GB/* 7015-1986 半导体集成非线性电路数字/ 模拟转换器和模拟/ 数字转换器测试方法的基本原理
    GB/* 7079-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路CH 2001型TTL双 4输入与非门
    GB/* 7080-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路 CH 2007型 HTL四反相器
    GB/* 7081-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路 CH 2008型 HTL 双4输入与非门
    GB/* 7082-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路 CH 2009型 HTL 三3输入与非门
    GB/* 7083-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路 CH 2010型 HTL四2 输入与非门
    GB/* 7084-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路 CH 2013型 HTL六反相器
    GB/* 7085-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路 CJ 0450型双外围正与驱动器
    GB/* 7086-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路 CJ 0451型双外围正与驱动器
    GB/* 7087-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路 CJ 0452型双外围正与非驱动器
    GB/* 7088-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路 CJ 0453型双外围正或驱动器
    GB/* 7089-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路 CJ 0454型双外围正或非驱动器
    GB/* 7090-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路 CD 7193 CP 色处理电路
    GB/* 7091-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路 CD 7611 CP 图象中频放大电路
    GB/T 7092-1993 半导体集成电路外形尺寸
    GB/* 7197-1987 电子元器件详细规范 半导体集成电路CE10101型ECL四2 输入或/或非门(可供认证用)
    GB/* 7198-1987 电子元器件详细规范 半导体集成电路CE10102型ECL四2 输入或非门 (可供认证用)
    GB/* 7199-1987 电子元器件详细规范 半导体集成电路CE10104型ECL四2 输入与门 (可供认证用)
    GB/* 7200-1987 电子元器件详细规范 半导体集成电路CE10105型ECL三2,3,2 输入或/或非门 (可供认证用)
    GB/* 7201-1987 电子元器件详细规范 半导体集成电路CE10106型ECL三4,3,3 输入或非门 (可供认证用)
    GB/* 7202-1987 电子元器件详细规范 半导体集成电路CE10109型ECL双4,5 输入或/或非门 (可供认证用)
    GB/* 7203-1987 电子元器件详细规范 半导体集成电路CE10110型ECL双3 输入或门(3输出)(可供认证用)
    GB/* 7204-1987 电子元器件详细规范 半导体集成电路CE10111型ECL双3 输入或非门(3输出) (可供认证用)
    GB/* 7205-1987 电子元器件详细规范 半导体集成电路CE10117型ECL双2 路2-3输入或与/或与非门 (可供认证用)
    GB/* 7206-1987 电子元器件详细规范 半导体集成电路CE10121型ECL4路3-3-3-3输入或与 /或与非门 (可供认证用)
    GB/* 7498-1987 电子元器件详细规范 半导体集成电路CF741型运算放大器 (可供认证用)
    GB/* 7499-1987 电子元器件详细规范 半导体集成电路CW723型多端可调稳压器 (可供认证用)
    GB/* 7500-1987 半导体集成音响电路音频前置放大器测试方法的基本原理
    GB/* 7501-1987 半导体集成音响电路立体声解码器测试方法的基本原理
    GB/* 7502-1987 半导体集成音响电路电平指示驱动器测试方法的基本原理
    GB/* 7503-1987 半导体集成电路线性放大器测试方法的基本原理
    GB/T 7504-1987 半导体集成微型计算机电路系列和品种 2900系列的品种
    GB/T 7505-1987 半导体集成微型计算机电路系列和品种 68000 系列的品种
    GB/T 7506-1987 半导体集成微型计算机电路系列和品种 8086系列的品种
    GB/T 7507-1987 半导体集成微型计算机电路c 8080A型 8位微处理器功能验证方法
    GB/T 7508-1987 半导体集成微型计算机电路c 6821 型外围接口转接器功能验证方法
    GB/T 7509-1987 半导体集成电路微处理器空白详细规范 (可供认证用)
    GB/* 7511-1987 电子元器件详细规范 半导体集成电路 CE10131型ECL双主从D触发器(可供认证用)
    GB/* 9422-1988 电子元器件详细规范 半导体微型计算机集成电路 C 6800型 8位微处理器 (可供认证用)
    GB/T 9423-1988 半导体集成TTL电路系列和品种 54/74 ALS 系列的品种
    GB/T 9424-1988 CMOS数字集成电路4000系列电路空白详细规范 (可供认证用)
    GB/T 9425-1988 半导体集成电路运算放大器空白详细规范 (可供认证用)
    GB/* 9426-1988 电子元器件详细规范 半导体集成电路CC4013型CMOS双上升沿 D触发器 (可供认证用)
    GB/* 9427-1988 电子元器件详细规范 半导体集成电路CC4518型CMOS双十进制同步计数器 (可供认证用)
    GB/* 9428-1988 电子元器件详细规范 半导体集成电路CW7805型三端正稳压器 (可供认证用)
    GB/* 9429-1988 电子元器件详细规范 半导体集成电路 CF747型通用双运算放大器 (可供认证用)
    GB/* 9589-1988 电子元器件详细规范 半导体电视集成电路CD5250CP伴音中频放大电路
    GB/* 9590-1988 电子元器件详细规范 半导体电视集成电路CD5435CP磁场扫描电路
    GB/* 9591-1988 电子元器件详细规范 半导体电视集成电路CD5132CP图象中频放大电路
    GB/* 9592-1988 电子元器件详细规范 半导体电视集成电路CD5622CP PAL制色信号处理电路
    GB/* 9593-1988 电子元器件详细规范 半导体电视集成电路CD5612CP图象色信号处理电路
    GB/* 9594-1988 电子元器件详细规范 半导体集成电路CW574CS 电子调谐器用稳压器
    GB/* 9611-1988 电子元器件详细规范 半导体集成电路CB14433型3 1/2位 A/D 转换器(可供认证用)
    GB/* 9616-1988 电子元器件详细规范 半导体电视集成电路 CD11235CP行场扫描电路
    GB/* 9617-1988 电子元器件详细规范 半导体电视集成电路CD11215ACP图象中频放大电路
    GB/* 9618-1988 电子元器件详细规范 半导体电视集成电路 CD1124ACP伴音中频放大电路
    GB/* 11494-1989 电子元器件详细规范 半导体集成电路CD7698CP行场扫描及色处理电路
    GB/* 11495-1989 电子元器件详细规范 半导体集成电路 CD7680CP 图象伴音中频放大电路
    GB/T 11497.1-1989 半导体集成电路CMOS电路系列和品种 54/74HC 系列的品种
    GB/T 11497.2-1989 半导体集成电路CMOS电路系列和品种 54/74HCT 系列的品种
    GB/T 12084-1989 半导体集成电路TTL 电路系列和品种 54/74F系列的品种
    GB/T 12844-1991 半导体集成电路非线性电路系列和品种 采样/ 保持放大器的品种
    GB/T 12845-1991 半导体集成电路非线性电路系列和品种 电压/ 频率和频率/ 电压转换器的品种
    GB/T 13064-1991 半导体集成电路系列和品种 复印机用系列的品种
    GB/T 13067-1991 半导体集成电路系列和品种 石英电子钟表用系列的品种
    GB/T 13068-1991 半导体集成电路系列和品种 磁敏传感器用系列的品种
    GB/T 13069-1991 半导体集成电路系列和品种 数控机床用系列的品种
    GB/T 14025-1992 半导体集成电路门阵列电路系列和品种ECL系列和品种
    GB/T 14026-1992 半导体集成电路微型计算机电路系列和品种 80C86系列的品种
    GB/T 14027.1-1992 半导体集成电路通信电路系列和品种 有源滤波器系列品种
    GB/T 14027.2-1992 半导体集成电路通信电路系列和品种 脉码调制编译码器系列品种
    GB/T 14027.3-1992 半导体集成电路通信电路系列和品种 模拟开关阵列系列品种
    GB/T 14027.4-1992 半导体集成电路通信电路系列和品种 双音多频电路系列品种
    GB/T 14027.5-1992 半导体集成电路通信电路系列和品种 电话电路系列品种
    GB/T 14027.6-1992 半导体集成电路通信电路系列和品种 频率合成器系列品种
    GB/T 14027.7-1992 半导体集成电路通信电路系列和品种 数字交换系统接口电路系列品种

    GB/T 12275-1990 石英晶体振荡器型号命名方法
    GB/T 12859-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器总规范 (可供认证用)
    GB/T 12860-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器 分规范 低频压电陶瓷谐振器
    GB/T 12861-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器 空白详细规范 低频压电陶瓷谐振器 评定水平 E(可供认证用)
    GB/T 12862-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器 分规范 高频压电陶瓷谐振器 (可供认证用)
    GB/T 12863-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器 空白详细规范 高频压电陶瓷谐振器 评定水平 E(可供认证用)
    GB/T 9537-1988 电子设备用键盘开关 第一部分: 总规范 (可供认证用)
    GB/* 5818-1986 音响设备用圆形连接器总规范 (可供认证用)
    GB/* 5819.1-1986 音响设备用圆形连接器详细规范 YS1 型圆形连接器 (可供认证用)
    GB/* 5819.2-1986 音响设备用圆形连接器详细规范 YS2 型圆形连接器 (可供认证用)
    GB/* 5819.3-1986 音响设备用圆形连接器详细规范 YC型圆形连接器 (可供认证用)
    GB/* 5819.4-1986 音响设备用圆形连接器详细规范 YL型圆形连接器 (可供认证用)
    GB/T 9020-1988 视频同轴连接器总规范
    GB/* 9021.1-1988 SL10型视频连接器
    GB/* 9021.2-1988 SL12型视频连接器
    GB/* 9021.3-1988 SL16型视频连接器
    GB/T 9024-1988 印制板用频率低于3MHz的连接器总则和制订详细规范的导则
    GB/T 9538-1988 带状电缆连接器总规范
    GB/* 9539-1988 电子元器件详细规范 DC2型带状电缆连接器
    GB/T 11313-1989 射频同轴连接器总规范
    GB/* 11314-1989 N 型射频同轴连接器
    GB/* 11315-1989 BNC 型射频同轴连接器
    GB/* 11316-1989 SMA 型射频同轴连接器
    GB/* 11317-1989 绕接技术
    GB/T 12270-1990 射频同轴连接器电气试验和测试程序 屏蔽效率
    GB/T 12271-1990 射频同轴连接器射频插入损耗测试方法
    GB/T 12272-1990 射频同轴连接器耐射频高电位电压测试方法
    GB/T 12793-1991 电连接器接触件嵌卸工具总规范
    GB/* 11492-1989 FD08 FD12和FD15型间隙放电器技术条件
    GB/* 11280-1989
    电子元器件详细规范 有质量评定的有或无机电继电器 试验览表3 JZC 21F 型直流电磁继电器
    (可供认证用)
    GB/T 11321-1989 波导元件模数尺寸选择指南
    GB/T 11449.1-1989 波导法兰盘 第一部分: 一般要求
    GB/T 11449.2-1989 波导法兰盘 第二部分: 普通矩形波导法兰盘规范
    GB/T 11449.3-1989 波导法兰盘 第三部分: 扁矩形波导法兰盘规范
    GB/T 11449.4-1989 波导法兰盘 第四部分:圆形波导法兰盘规范
    GB/T 11449.5-1989 波导法兰盘 第六部分: 中等扁矩形波导法兰盘规范
    GB/T 11449.6-1989 波导法兰盘 第七部分: 方形波导法兰盘规范
    GB/T 11450.1-1989 空心金属波导 第一部分: 一般要求和测量方法
    GB/T 11450.2-1989 空心金属波导 第二部分:普通矩形波导有关规范
    GB/T 11450.3-1989 空心金属波导 第三部分: 扁矩形波导有关规范
    GB/T 11450.4-1989 空心金属波导 第四部分: 圆形波导有关规范
    GB/T 11450.5-1989 空心金属波导 第六部分: 中等扁矩形波导有关规范
    GB/T 11450.6-1989 空心金属波导 第七部分: 方形波导有关规范
    GB/T 11451-1989 软波导组件性能
    GB/T 12774-1991 同轴电气假负载总规范
    GB/T 13415-1992 射频混频器总规范
    GB/T 13416-1992 射频传输线(同轴)开关总规范
    GB/T 1360-1978 印制电路网格
    GB/T 4588.1-1984 无金属化孔单双面印制板技术条件
    GB/T 4588.2-1984 有金属化孔单双面印制板技术条件
    GB/T 4588.3-1988 印制电路板设计和使用
    GB/T 4588.4-1988 多层印制板技术条件
    GB/T 4677.1-1984 印制板表层绝缘电阻测试方法
    GB/T 4677.3-1984 印制板拉脱强度测试方法
    GB/T 4677.4-1984 印制板抗剥强度测试方法
    GB/T 4677.5-1984 印制板翘曲度测试方法
    GB/T 4677.6-1984 金属和氧化覆盖层厚度测试方法 截面金相法
    GB/T 4677.7-1984 印制板镀层附着力试验方法 胶带法
    GB/T 4677.8-1984 印制板镀涂覆层厚度测试方法 反向散射法
    GB/T 4677.9-1984 印制板镀层孔隙率电图象测试方法
    GB/T 4677.10-1984 印制板可焊性测试方法
    GB/T 4677.11-1984 印制板耐热冲击试验方法
    GB/T 4677.12-1988 印制板互连电阻测试方法
    GB/T 4677.13-1988 印制板金属化孔电阻的变化 热循环测试方法
    GB/T 4677.14-1988 印制板蒸汽-氧气加速老化试验方法
    GB/T 4677.15-1988 印制板绝缘涂层耐溶剂和耐焊剂试验方法
    GB/T 4677.16-1988 印制板一般检验方法
    GB/T 4677.17-1988 多层印制板内层绝缘电阻测试方法
    GB/T 4677.18-1988 多层印制板层间绝缘电阻测试方法
    GB/T 4677.19-1988 印制板电路完善性测试方法
    GB/T 4677.20-1988 印制板镀层附着性试验方法 摩擦法
    GB/T 4677.21-1988 印制板镀层孔隙率测试方法 气体暴露法
    GB/T 4677.22-1988 印制板表面离子污染测试方法
    GB/T 4677.23-1988 印制板阻燃性能测试方法
    GB/T 4721-1992 印制电路用覆铜箔层压板通用规则
    GB/T 4722-1992 印制电路用覆铜箔层压板试验方法
    GB/T 4723-1992 印制电路用覆铜箔酚醛纸层压板
    GB/T 4724-1992 印制电路用覆铜箔环氧纸层压板
    GB/T 4725-1992 印制电路用覆铜箔环氧玻璃布层压板
    GB/T 4825.1-1984 印制板导线局部放电测试方法
    GB/T 4825.2-1984 印制板导线载流量测试方法
    GB/T 5489-1985 印制板制图
    GB/T 7613.1-1987 印制板导线耐电流试验方法
    GB/T 7613.2-1987 印制板表层耐电压试验方法
    GB/T 7613.3-1987 印制板金属化孔耐电流试验方法
    GB/T 9315-1988 印制电路板外形尺寸系列
    GB/* 9491-1988 锡焊用液态焊剂 (松香基)
    GB/* 10243-1988 多层印制板用粘结片预浸材料
    GB/* 10244-1988 电视广播接收机用印制板规范
    GB/T 12559-1990 印制电路用照相底图图形系列
    GB/T 12629-1990 限定燃烧性的薄覆铜箔环氧玻璃布层压板 (制造多层印制板用)
    GB/T 12630-1990 一般用途的薄覆铜箔环氧玻璃布层压板 (制造多层印制板用)
    GB/T 12631-1990 印制导线电阻测试方法
    GB/T 13555-1992 印制电路用挠性覆铜箔聚酰亚胺薄膜
    GB/T 13556-1992 印制电路用挠性覆铜箔聚脂薄膜
    GB/T 13557-1992 印制电路用挠性覆铜箔材料试验方法
    GB/* 3661-1983 测试电容传声器技术条件
    GB/* 3662-1983 测试电容传声器电声性能的测量方法
    GB/T 6832-1986 头戴耳机测量方法
    GB/T 7614-1987 校准测耳机用的宽频带型仿真耳
    GB/T 13537-1992 电子类家用电器用电机通用技术条件
    GB/T 787-1974 电子管管基尺寸
    GB/* 1956-1989 电子管型号命名方法
    GB/T 2987-1982 电子管参数符号
    GB/T 3188-1982 电子管外形尺寸
    GB/T 3189-1982 电子管引出帽连接尺寸
    GB/T 4597-1984 电子管名词术语
    GB/T 7274-1987 电子管极间电容测试方法
    GB/* 11486-1989 电子管热丝或灯丝电流和电压的测试方法
    GB/T 4677.2-1984 印制板金属化孔镀层厚度测试方法 微电阻法
    GB/T 3306.1-1982 小功率电子管电性能测试方法 测试设备及电气测试总则
    GB/T 3306.2-1982 小功率电子管电性能测试方法 阳极电流和对阴极具有正电位的栅极电流的测试方法
    GB/T 3306.3-1982 小功率电子管电性能测试方法 对阴极具有负电位的栅极电流的测试方法
    GB/T 3306.4-1982 小功率电子管电性能测试方法 阴极电流的测试方法
    GB/T 3306.5-1982 小功率电子管电性能测试方法 阴极发射电流的测试方法
    GB/T 3306.6-1982 小功率电子管电性能测试方法 整流状态的测试方法
    GB/T 3306.7-1982 小功率电子管电性能测试方法 跨导的测试方法
    GB/T 3306.8-1982 小功率电子管电性能测试方法 放大系数的测试方法
    GB/T 3306.9-1982 小功率电子管电性能测试方法 内阻的测试方法
    GB/T 3306.10-1982 小功率电子管电性能测试方法 输入电阻的测试方法
    GB/T 3306.11-1982 小功率电子管电性能测试方法 等效噪声电阻的测试方法
    GB/T 3306.12-1982 小功率电子管电性能测试方法 低频放大状态下的输出功率和非线性失真的测试方法
    GB/T 3306.13-1982 小功率电子管电性能测试方法 栅极截止电压和栅极电流截止电压的测试方法
    GB/T 3306.14-1982 小功率电子管电性能测试方法 低频动态放大倍数和非对称性放大的测试方法
    GB/T 3306.15-1982 小功率电子管电性能测试方法 变频跨导和变频状态下各个电极电流的测试方法
    GB/T 3306.16-1982 小功率电子管电性能测试方法 静态极间电容的测试方法
    GB/T 3306.17-1982 小功率电子管电性能测试方法 电极间以及电极与其他零件间绝缘电阻的测试方法
    GB/T 3306.18-1982 小功率电子管电性能测试方法 阴极加热时间的测试方法
    GB/T 3306.19-1982 小功率电子管电性能测试方法 最大阳极耗散功率的测试方法
    GB/T 3306.20-1982 小功率电子管电性能测试方法 短路和断路的测试方法
    GB/T 3306.21-1982 小功率电子管电性能测试方法 冲击激励微音效应的测试方法
    GB/T 3306.22-1982 小功率电子管电性能测试方法 低频杂音的测试方法
    GB/T 3306.23-1982 小功率电子管电性能测试方法 高频杂音的测试方法
    GB/T 3306.24-1982 小功率电子管电性能测试方法 哼声的测试方法
    GB/T 3307-1982 小功率电子管灯丝断续试验方法
    GB/T 3789.1-1991 发射管电性能测试方法 总则
    GB/T 3789.2-1991 发射管电性能测试方法 阳极电流和栅极电流的测试方法
    GB/T 3789.3-1991 发射管电性能测试方法 阴极发射电流的测试方法
    GB/T 3789.4-1991 发射管电性能测试方法 栅极反向电流的测试方法
    GB/T 3789.5-1991 发射管电性能测试方法 栅极热放射电流的测试方法
    GB/T 3789.6-1991 发射管电性能测试方法 跨导放大系数的测试方法
    GB/T 3789.7-1991 发射管电性能测试方法 阳极离子流的测试方法
    GB/T 3789.8-1991 发射管电性能测试方法 阳极最大耗散功率和阳极过载耗散功率的测试方法
    GB/T 3789.9-1991 发射管电性能测试方法 栅极最大耗散功率的测试方法
    GB/T 3789.10-1991 发射管电性能测试方法 第一栅极截止电压的测试方法
    GB/T 3789.11-1991 发射管电性能测试方法 第三栅极截止电压的测试方法
    GB/T 3789.12-1991 发射管电性能测试方法 极间绝缘的测试方法
    GB/T 3789.13-1991 发射管电性能测试方法 共栅电路静态特性曲线的测试方法
    GB/T 3789.14-1991 发射管电性能测试方法 共阴电路静态特性曲线的测试方法
    GB/T 3789.15-1991 发射管电性能测试方法 输出功率的测试方法
    GB/T 3789.16-1991 发射管电性能测试方法 脉冲输出功率的测试方法
    GB/T 3789.17-1991 发射管电性能测试方法 电气强度的测试方法
    GB/T 3789.18-1991 发射管电性能测试方法 电极间绝缘高频损耗的测试方法
    GB/T 3789.19-1991 发射管电性能测试方法 频率特性曲线的测试方法
    GB/T 3789.20-1991 发射管电性能测试方法 第一栅极电流截止电压的测试方法
    GB/T 3789.21-1991 发射管电性能测试方法 静态特性参考点的测试方法
    GB/T 3789.22-1991 发射管电性能测试方法 振动稳定性的测试方法
    GB/T 3789.23-1991 发射管电性能测试方法 第三栅极控制能力的测试方法
    GB/T 3789.24-1991 发射管电性能测试方法 线性放大管双音互调失真的测试方法
    GB/T 3789.25-1991 发射管电性能测试方法 图象输出功率的测试方法
    GB/T 3789.26-1991 发射管电性能测试方法 功率增益的测试方法
    GB/T 3789.27-1991 发射管电性能测试方法 三音互调失真的测试方法
    GB/T 3789.28-1991 发射管电性能测试方法 交叉调制的测试方法
    GB/T 3789.29-1991 发射管电性能测试方法 视频亮度非线性的测试方法

    GB/* 9583-1988 电子元器件详细规范 CA型固体电解固定钽电容器
    GB/T 9597-1988 电子设备用固定电容器 分规范: 1类高功率瓷介电容器(可供认证用)
    GB/T 9598-1988 电子设备用固定电容器 空白详细规范: 1 类高功率瓷介电容器 评定水平E(可供认证用)
    GB/* 9599-1988 电子元器件详细规范 CC81型高压瓷介电容器 评定水平 E (可供认证用)
    GB/* 9600-1988 电子元器件详细规范 CT81型高压瓷介电容器 评定水平 E (可供认证用)
    GB/* 9604-1988 电子元器件详细规范 CD288型固定铝电解电容器(可供认证用)
    GB/* 9605-1988 电子元器件详细规范 CD289型固定铝电解电容器(可供认证用)
    GB/* 9606-1988 电子元器件详细规范 CBB13 型金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器 评定水平 E (可供认证用)
    GB/* 9607-1988 电子元器件详细规范 CD30型固定铝电解电容器 (可供认证用)
    GB/* 9608-1988 电子元器件详细规范 CD110型固定铝电解电容器(可供认证用)
    GB/* 9609-1988 电子元器件详细规范 CD291, CD292, CD293 型固定铝电解电容器 (可供认证用)
    GB/* 9610-1988 电子元器件详细规范 CBB111型金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器 评定水平 E (可供认证用)
    GB/T 10185-1988 电子设备用固定电容器 第7部分:分规范: 金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器 (可供认证用)

    GB/T 2689.2-1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法 (用于威布尔分布)
    GB/T 2689.3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法 (用于威布尔分布)
    GB/T 2689.4-1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法 (用于威布尔分布)
    GB/T 5080.1-1986 设备可靠性试验 总要求
    GB/T 5080.2-1986 设备可靠性试验 试验周期设计导则
    GB/T 5080.4-1985 设备可靠性试验 可靠性测定试验的点估计和区间估计方法 (指数分布)
    GB/T 5080.5-1985 设备可靠性试验 成功率的验证试验方案
    GB/T 5080.6-1985 设备可靠性试验 恒定失效率假设的有效性检验
    GB/T 5080.7-1986 设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案
    GB/T 5081-1985 电子产品现场工作可靠性有效性和维修性数据收集指南
    GB/T 6990-1986 电子设备用元器件(或部件)规范中可靠性条款的编写指南
    GB/T 6991-1986 电子元器件可靠性数据表示方法
    GB/T 6993-1986 系统和设备研制生产中的可靠性程序
    GB/T 7288.1-1987 设备可靠性试验 推荐的试验条件 室内便携设备 粗模拟
    GB/T 7288.2-1987 设备可靠性试验 推荐的试验条件 固定使用在有气候防护场所设备 精模拟
    GB/T 7289-1987 可靠性维修性与有效性预计报告编写指南
    GB/T 9414.1-1988 设备维修性导则 第一部分: 维修性导言
    GB/T 9414.2-1988 设备维修性导则 第二部分: 规范与合同中的维修性要求
    GB/T 9414.3-1988 设备维修性导则 第三部分: 维修性大纲
    GB/T 9414.4-1988 设备维修性导则 第五部分: 设计阶段的维修性研究
    GB/T 9414.5-1988 设备维修性导则 第六部分: 维修性检验
    GB/T 9414.6-1988 设备维修性导则 第七部分: 维修性数据的收集分析与表示
    GB/T 12992-1991 电子设备强迫风冷热特性测试方法
    GB/T 12993-1991 电子设备热性能评定
    GB/T 7349-1987 高压架空输电线变电站无线电干扰测量方法
    GB/T 7432-1987 同轴电缆载波通信系统抗无线电广播和通信干扰的指标
    GB/T 7433-1987 对称电缆载波通信系统抗无线电广播和通信干扰的指标
    GB/T 7434-1987 架空明线载波通信系统抗无线电广播和通信干扰的指标
    GB 7495-1987 架空电力线路与调幅广播收音台的防护间距
    GB 9254-1988 信息技术设备的无线电干扰极限值和测量方法
    GB/T 9382-1988 彩色电视广播接收机可靠性验证试验 贝叶斯方法
    GB/T 12190-1990 高性能屏蔽室屏蔽效能的测量方法
    GB/T 12776-1991 机动车辆点火系统干扰抑制方法及抑制器插入损耗的测量和允许值

     

    实验室名称:北京机械工业仪表所可靠性与电磁兼容检测中心
    试验联系人:彭光琼
    座机:010-6346 9388
    手机:136 9109 3503
    邮箱:test0718@126.com
    网址:http://www.test114.com.cn
    全国检测:天津_上海_长春_哈尔滨_重庆_成都_贵阳_山西_陕西_内蒙古_江苏
    全国检测测试项目: 环境试验_电磁兼容性试验_可靠性试验_电磁兼容试验_IP防护等级试验_安规试验_EMC试验_环境可靠性试验_电磁兼容测试_电磁兼容检测_可靠性试验_环境试验中心_网络测试
    实验室地址:北京市广安门外大街甲397号北京机械工业仪表所


     热门搜索:可靠性试验  电磁兼容测试  电磁兼容试验  可靠性实验室  电磁兼容实验室  可靠性实验室  电磁兼容实验室  可靠性测试  环境可靠性  IP防护等级测试  可靠性与电磁兼容试验 来源:可靠性,电磁兼容,环璋,力学试验检测中心 浏览人次共有次   【字号:

    疑问解答
    {$JY_疑问解答}
  •   
  • 推荐资讯
    兵器综合环境试验室
    (一)主要用途:环境模拟试验在军事领域中的应用十分广泛,可进行武器装备、零部件和材料以及弹药等装备和设备的模拟环境试验,只有通过了这些试验才
    大型环境试验室,汽车风洞实验室
    大型环境试验室装置有汽车风洞实验室和大型环境试验室两类.致力于大型环境试验室的创新研发
    北京盐雾腐蚀试验 盐雾试验标准
    北京盐雾腐蚀试验 盐雾试验标准
    环境试验与可靠性试验的关系及其应...
    为达到产品研制合同的要求, 试验、评价和改进贯穿整个产品研制和生产过程, 主要包括研制试验、鉴定试验、验收试验和例行试验。环境试验是以产品对
    [推荐]TB2953铁路地面信号...
    TB2953铁路地面信号产品高温及低温试验
    [推荐]GB/T10125霉菌盐...
    GB/T10125霉菌盐雾腐蚀可靠性试验-机械工业仪器仪表综合技术经济研究所测量控制设备及系统实验室
    GB/T2423.34温度/湿度...
    GB/T2423.34温度/湿度组合循环可靠性试验-北京机械工业仪表所实验室,可靠性试验中心
    GJB150.6军用设备环境试验...
    GJB150.6军用设备环境试验方法 温度-高度试验检测服务
    GJB150.5军用设备环境试验...
    GJB150.5军用设备环境试验方法 温度冲击试验检测服务
    GJB150.2军用设备环境试验...
    GJB150.2军用设备环境试验方法 低气压(高度)试验检测服务