GB/T2423.22-2002/IEC60068-2-14:1984电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法:试验N:温度变化试验

温度变化试验适用于确定一次或连续多次温度变化对试验样品的影响.
本试验不能用来考核仅由高温或低温所引起的影响,对这种影响,应使用高温或低温试验方法.
影响温度变化试验的主要参数是:
温度变化范围的高温和低温温度值;
试验样品在高温和低温下的保持时间;
低温到高温或高温到低温之间的温度变化的速率;
条件试验的循环数;
试验样品吸收或放出的总热量.

温度变化试验Na:规定转换时间的快速温度变化

温度变化试验的目的：确定元件，设备和其他产品经受环境温度迅速变化的能力。所需的暴露时间，取决于试验样品的性质。

温度变化试验是将试验样品交替暴露于低温核高温空气中，使其经受温度快速变化的影响。

一般的温度范围是在GB2423.1和GB2423.2种选取。试验的循环数一般为5次循环，温度的转换时间为2-3min.


温度变化试验Nb:规定温度变化速率的温度变化试验
温度变化试验目的：确定元件设备及其他产品耐环境温度变化的能力和在环境温度变化期间的工作能力。

温度变化试验是将试验样品暴露在能以一定控制速率变化到规定温度的试验箱中，在暴露期间可以监测试验样品的性能。


一般的温度范围是在GB2423.1和GB2423.2种选取。试验的循环数一般为2次循环，温度变化速率一般在1度/min,3度/min,5度/min.
 

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