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电子设备实施了高低温环境试验及电磁兼容试验测试服务

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电子设备实施了高低温环境试验及电磁兼容试验测试服务

 近日,我单位实验室为北京某厂家的电子设备实施了高低温环境试验电磁兼容试验测试服务。

具体的检测项目如下:
1、低温工作试验:-40℃,带电工作8小时;
2、高温工作试验:60℃,带电工作8小时;
3、低温贮存试验:-45℃,贮存24小时;
4、高温贮存试验:65℃,贮存24小时;
5、静电放电抗扰度试验:接触放电6kv,空气放电8kv;
6、射频电磁场辐射抗扰度试验:测试频率80MHz-1000MHz,场强10V/m;
7、浪涌(冲击)抗扰度试验:线地间2kv,线线间1kv;
8、辐射骚扰试验:测试频率30MHz-1000MHz,B类;
9、振动试验:测试频率5Hz-500Hz,加速度5g,振动三个相互垂直的方向,每方向振动60分钟。

检测依据:
GB/T2423.1-2008《电工电子产品环境试验  第2部分:试验方法 试验A:低温》
GB/T2423.2-2008《电工电子产品环境试验  第2部分:试验方法 试验B:高温》
GB/T2423.10-2008《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动(正弦)》
GB/T17626.2-2006《电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验》
GB/T17626.3-2006《电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验》
GB/T17626.5-2008《电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验》
GB9254-2008《信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法》
 
本文标签:检测案例  电子设备