高加速寿命试验测试-HALT测试-HASS试验-可靠性

高加速寿命试验测试实验室具备HALT测试（高加速压力测试）和HASS测试（高加速应力筛选试验）的第三方检测机构。实验室配备Halt试验箱，提供各类芯片、电路板、中小型设备的HALT测试和HASS试验。

产品高加速HALT试验依据基础标准GB/T29309-2012《电工电子产品加速试验规程高加速寿命试验导则》进行测试。

试验应力：高温步进、低温步进、快速温度变化循环、六自由度非高斯宽带随机振动等测试应力类型。

高加速寿命试验项目：

常温性能试验；

温度均匀性测试；

低温步进试验；

高温步进试验；

快速温度循环试验；

振动步进试验；

快速温变循环与振动步进综合试验。

可靠性高加速寿命测试实验室拥有多台HALT试验箱，可开展的Halt/Hass试验，包括：低温步进应力试验、高温步进应力试验、振动步进应力试验、快速热循环试验和综合应力试验，在这些试验过程中，往往伴随着工作应力如产品开/关机，电压位偏，频率拉偏等。

可靠性高加速寿命测试可为电工电子、仪器仪表、汽车以及航天产品的模块、通讯终端、部件以及整机等开展Halt/Hass试验。