电子元器件检测及电气元件环境适应性试验,国家检测报告

环境适应性试验主要包括：盐雾腐蚀试验，湿热试验，浸渍试验，低气压试验，温度冲击试验，高温寿命试验，砂尘试验，有焰燃烧试验，振动试验，随机跌落试验，强碰撞冲击试验，机械冲击试验等试验，出具国家可靠性检测报告。

相关检测标准:

GJB360B 电子及电气元件试验方法 温度冲击试验

GB/T 2423.11电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验Fd:宽频带随机振动–一般要求

GJB 360A 电子及电气元件试验方法

GJB 1420A 半导体集成电路外壳总规范

GJB 128A 半导体分立器件试验方法

GJB 3157 半导体分立器件失效分析方法和程序

GJB 3233 半导体集成电路失效分析程序和方法

GJB 548A 微电子器件试验方法和程序

GJB 548B 微电子器件试验方法和程序

GJB 5914 各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法

GJB128A 半导体分立器件试验方发方法1071密封

GB/T17574半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路

GJB597A 半导体集成电路总规范

GB/T6798半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

GB/T4587半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

GB/T4586半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

GB/T 4023 半导体器件:分立器件和集成电路第2部分:整流二极管

GB/T2693 电子设备用固定电容器

GB/T5729 电子设备用固定电阻器

GJB1217A 电连接器试验方法等。