GJB150.4-86/GB11606.3-89/GB2423.1-89/GB/T 2424. 1-2005/IEC/60068-3-1:1974

2013/9/30 8:17:43作者:电磁兼容测试手机号/微信号:136-9109-3503阅读:
电磁兼容测试项目, GJB150.4-86/GB11606.3-89/GB2423.1-89/GB/T 2424. 1-2005/IEC/60068-3-1:1974前能进行低温试验的实验室有环境可靠性与电磁

 GJB150.4-86/GB11606.3-89/GB2423.1-89/GB/T 2424. 1-2005/IEC/60068-3-1:1974前能进行低温试验的实验室环境可靠性电磁兼容试验中心、北京航天环境可靠性试验与检测中心

 

用途:用于科研研究、医辽用品的保存、生物制品、远洋制品、电子元件、化工材料等特殊材料的低温实验及储存。

低温试验用于考核产品在低温环境条件下贮存和使用的适应性,常用于产品在开发阶段的型式试验、元器件的筛选试验。

低温试验的技术指标包括:温度、时间、上升速率。

注意产品从低温箱取出时由于温度突变会产生冷凝水。(对温度循环、温度冲击、湿热试验均适用)

样品放入试验箱内为保持样品表面温度的均匀性,样品距离箱壁的距离最少为5cm

GB/T 2423.1中低温的试验方法分:散热样品的温度渐变,非散热样品的温度渐变

试验结束后需要将样品在箱体内恢复至稳定状态,或将样品放置在常温常湿环境下进行恢复至稳定状态,在特定环境下会要求对样品吹稍热的风进行解冻再进行升温至稳定状态。

 

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