电子产品可靠性高低温测试是什么？| 高低温环境可靠性检测

2026/9/5 10:00:32  阅读数：2  立即咨询

在电子半导体、新能源汽车、航空航天、智能终端等高端制造业快速迭代的当下，电子产品的高温、低温、高低温、老化、可靠性测试，一般高低温试验指温变环境适应性测试，高低温环境可靠性检测常见的表征方法包括温度循环试验、温度冲击试验和功率循环试验。

 

高低温试验（低温存储、高温存储、温度循环 / 温度冲击）

模拟严寒、酷暑、昼夜冷热交替；失效模式：塑胶脆裂、密封胶圈硬化、触点氧化、内部油脂凝固、接触电阻漂移、IP 防护失效。

1、低温试验 GB/T2423.1

普通室内设备：‑25℃，存放 2h

充电桩 / 户外设备：‑40℃，存放 2h

步骤：样品放入试验箱，达到设定温度保温 2h；开关分别置 ON、OFF 档位；试验结束取出恢复常温 2h 再测电气性能。

 

2、高温试验 GB/T2423.2

普通室内：+70℃，2h

充电桩、机箱密闭高温：+85℃，2h

要点：高温下塑胶底座、密封件、触点镀层加速老化；大功率开关同时观察端子温升。

 

3、温度循环（冷热交变，充电桩必做）GB/T2423.22

模拟昼夜反复温差，比单纯高低温存储更贴近真实工况

户外充电桩条件：‑40℃（保温 1h） ↔ +85℃（保温 1h），转换时间＜10min，循环 10 次

室内设备：‑25℃↔+70℃，循环 5 次

结束条件：循环完成，常温恢复 2 小时；检测机械手感、接触电阻、绝缘耐压、密封完整性。

合格判定

手柄档位定位清晰，无卡滞、无变形、无裂纹；

接触电阻≤50mΩ，无瞬时开路；

绝缘电阻≥100MΩ，耐压 AC1500V/1min 无击穿飞弧。

常见失效：低温胶圈变硬，防水开关 IP 等级下降；高温塑胶软化、内部弹片应力改变，出现虚接。

关联词： 可靠性检测  

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