高低温测试实验室,高低温实验室测试的试验步骤
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北京高低温测试是用来确认产品在温湿度气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高/低温、湿度和曝露持续时间，下面高低温测试机构给大家讲讲高低温测试的原理是什么？
高低温实验室测试的试验步骤：
预处理：将被测样品放置在正常的试验大气条件下，直至达到温度稳定。
初步检测：将测试样品与标准要求进行比较，满足要求后直接放入高低温试验箱。
样品断电时，试验样品应按标准要求放置在试验箱内，试验箱（室）内温度应降至-50℃，保持4小时；不要在样品通电状态下进行低温测试，这一步非常重要，因为芯片本身在通电状态下会产生20℃因此，在通电状态下，通常更容易通过低温试验，必须先冻透，再通电试验。
在低温阶段结束后5min将试验样品转换为已调整的样品90℃保持在高温试验箱（室）内4h或者直到测试样品达到温度稳定，与低温测试相反，加热过程不断电，芯片内部温度保持高温，4小时后执行A、B测试步骤。
进行老化测试，观察是否存在数据对比错误。
高温和低温试验分别重复10次。
重复上述实验方法，以完成三个循环。根据样品的大小和空间的大小，时间可能略有误差。
恢复：试验样品从试验箱中取出后，应在正常试验大气条件下恢复，直至试验样品达到温度稳定。
后检测：根据标准中的损伤程度等方法评估检测结果。
高温试验分为：高温贮存试验（恒温贮存至少贮存2小时、循环贮存至少贮存168小时）、高温工作试验（恒温工作至少工作2小时，循环工作至少工作72小时）
高温试验条件的主要参数包括：试验温度点、时间持续时间、温度变化速率（不超过3℃/min）
低温试验分为：低温贮存（没有特殊要求，推荐24小时）、低温工作（至少工作2小时）、拆卸操作（一般也是2小时）
低温试验条件的主要参数包括：试验温度点、时间持续时间、温度变化速率（不超过3℃/min）
温度冲击试验分为：恒定极值温度冲击和高温循环的温度冲击。一般用恒定极值的温度冲击比较多。循环次数至少为3次。
温度冲击试验条件的主要参数包括：高温温度点、低温温度点、温度转换时间（标准要求1min以内从低温转化到高温）、高低温极值的保持时间、循环次数。
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