高低温试验箱测试流程及判断标准

高低温试验箱
高低温试验箱具有良好的保温性能，箱室上顶面装有鼓风机，配以箱内风道，使箱内热空气有规律循环，从而提高了箱内温度均匀度。电加热器密封式管状形状，以防露热丝和低着火点气体直接接触而发生事故。

高低温试验箱测试流程：

1.当样品断电时，首先将温度降至-50℃，保持4小时;样品上电时不进行低温测试非常重要，因为芯片本身上电时温度会高于+20°C，所以通常上电时更容易通过低温测试，所以必须先“冻透”，再重新上电进行测试。
2.启动机器，测试样品的性能，与常温相比性能是否正常。
3.进行老化测试，看是否有数据对比错误。
4.将温度升至+90℃，并保持4小时。与低温测试是相反的，芯片内部温度要保持在高温状态，加热过程中不断电。在4小时之后，执行测试步骤2、3和4。 
5.高温和低温试验分别要重复10次。

如果测试过程在任何时候都不能正常工作，就被认为是测试失败。

试验标准

JUN用装备实验室环境试验方法 第 4 部分：低温试验 GJb150.4A-2009

JUN用装备实验室环境试验方法 第 3 部分：高温试验 GJb150.3A-2009

JUN用通信设备通用规范 GJb 367A－2001

JUN用计算机通用规范 GJb 322A-1998

JUN用电子测试设备通用规范 GJb 3947A-2009

舰船电子设备环境试验 高温试验 GJb 4.2-1983

舰船电子设备环境试验 低温试验 GJb4.3-1983

舰船电子设备环境试验 低温贮存试验 GJb 4.4-1983

技术侦察装备通用技术要求 第 7 部分：环境适应性要求和试验方法 GJb 1621.7A-2006

电工电子产品环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 A：低温 GB/T 2423.1-2008

电工电子产品环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 B：高温 GB/T 2423.2-2008

包装 运输包装件基本试验 第 2 部分：温湿度调节处理GB/T 4857.2－2005

汽车电气设备基本技术条件 QC/T 413-2002

道路车辆 电气及电子设备的环境条件和试验 第 4 部分：气候负荷 GB/T 28046.4-2011

电子测量仪器通用规范 GB/T 6587-2012

计算机通用规范 第 1 部分：台式微型计算机 GB/T9813.1-2016

计算机通用规范 第 2 部分：便携式微型计算机GB/T 9813.2-2016

计算机通用规范 第 3 部分：服务器 GB/T 9813.3-2017

计算机通用规范 第 4 部分：工业应用微型计算机 GB/T9813.4-2017

轨道交通 机车车辆电子装置 GB/T 25119-2010,IEC60571：2006

轨道交通 机车车辆电子装置 EN 50155:2017

铁路地面信号产品高温及低温试验方法 TB/T 2953-1999。